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JIS規格GPS

JIS規格 GPSに関する 一覧表

JIS規格 GPSに関する一覧

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規格番号規格名称制定日最新 改正日
JISB0021製品の幾何特性仕様(GPS)-幾何公差表示方式-形状,姿勢,位置及び振れの公差表示方式制)1972/2/1改)1998/1/20
JISB0024製品の幾何特性仕様(GPS)-基本原則-GPS指示に関わる概念,原則及び規則制)1988/9/1改)2019/2/20
JISB0028製品の幾何特性仕様(GPS)-寸法及び公差の表示方式-円すい制)2000/3/20改)2017/2/20
JISB0031製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状の図示方法制)1982/6/15改)2003/9/20
JISB0401-1製品の幾何特性仕様(GPS)-長さに関わるサイズ公差のISOコード方式-第1部:サイズ公差,サイズ差及びはめあいの基礎制)1998/1/20改)2016/3/22
JISB0401-2製品の幾何特性仕様(GPS)-長さに関わるサイズ公差のISOコード方式-第2部:穴及び軸の許容差並びに基本サイズ公差クラスの表制)1998/1/20改)2016/3/22
JISB0420-1製品の幾何特性仕様(GPS)-寸法の公差表示方式-第1部:長さに関わるサイズ制)2016/3/22改正 履歴なし
JISB0601製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状:輪郭曲線方式-用語,定義及び表面性状パラメータ制)1952/5/21改)2013/3/21
JISB0610製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状:輪郭曲線方式-転がり円うねりの定義及び表示制)1970/1/1改)2001/1/20
JISB0612製品の幾何特性仕様(GPS)-円すいのテーパ比及びテーパ角度の基準値制)1965/1/1改)2017/5/22
JISB0615-1製品の幾何特性仕様(GPS)-くさび形体-第1部:角度及び勾配の基準値制)2017/7/20改正 履歴なし
JISB0615-2製品の幾何特性仕様(GPS)-くさび形体-第2部:寸法及び公差の指示方法制)2017/7/20改正 履歴なし
JISB0631製品の幾何特性仕様 (GPS)-表面性状:輪郭曲線方式-モチーフパラメータ制)2000/3/20改正 履歴なし
JISB0633製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状:輪郭曲線方式-表面性状評価の方式及び手順制)2001/1/20改正 履歴なし
JISB0634製品の幾何特性仕様(GPS)-フィルタ処理-線形の輪郭曲線フィルタ:ガウシアンフィルタ制)2017/1/20改正 履歴なし
JISB0641-1製品の幾何特性仕様(GPS)-製品及び測定装置の測定による検査-第1部:仕様に対する合否判定基準制)2001/3/20改正 履歴なし
JISB0642製品の幾何特性仕様(GPS)-測定器の一般的な概念及び要求事項制)2010/9/21改正 履歴なし
JISB0651製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状:輪郭曲線方式-触針式表面粗さ測定機の特性制)1955/4/14改)2001/1/20
JISB0659-1製品の幾何特性仕様 (GPS) -表面性状:輪郭曲線方式;測定標準-第1部:標準片制)2002/3/20改正 履歴なし
JISB0670製品の幾何特性仕様 (GPS) -表面性状:輪郭曲線方式-触針式表面粗さ測定機の校正制)2002/3/20改正 履歴なし
JISB0671-1製品の幾何特性仕様 (GPS) -表面性状:輪郭曲線方式;プラトー構造表面の特性評価-第1部:フィルタ処理及び測定条件制)2002/3/20改正 履歴なし
JISB0671-2製品の幾何特性仕様 (GPS) -表面性状:輪郭曲線方式;プラトー構造表面の特性評価-第2部:線形表現の負荷曲線による高さの特性評価制)2002/3/20改正 履歴なし
JISB0671-3製品の幾何特性仕様 (GPS) -表面性状:輪郭曲線方式;プラトー構造表面の特性評価-第3部:正規確率紙上の負荷曲線による高さの特性評価制)2002/3/20改正 履歴なし
JISB0672-1製品の幾何特性仕様(GPS)-形体-第1部:一般用語及び定義制)2002/9/20改正 履歴なし
JISB0672-2製品の幾何特性仕様(GPS)-形体-第2部:円筒及び円すいの測得中心線,測得中心面並びに測得形体の局部寸法制)2002/9/20改正 履歴なし
JISB0680製品の幾何特性仕様(GPS)-製品の幾何特性仕様及び検証に用いる標準温度制)2007/3/20改正 履歴なし
JISB0681-3製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状:三次元-第3部:仕様オペレータ制)2019/2/20改正 履歴なし
JISB0681-6製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状:三次元-第6部:表面性状測定方法の分類制)2014/7/22改正 履歴なし
JISB0682-1製品の幾何特性仕様(GPS)-真円度-第1部:用語及びパラメータ制)2017/2/20改正 履歴なし
JISB0682-2製品の幾何特性仕様(GPS)-真円度-第2部:仕様オペレータ制)2017/2/20改正 履歴なし
JISB0683-1製品の幾何特性仕様(GPS)-真直度-第1部:用語及びパラメータ制)2017/2/20改正 履歴なし
JISB0683-2製品の幾何特性仕様(GPS)-真直度-第2部:仕様オペレータ制)2017/2/20改正 履歴なし
JISB0684-1製品の幾何特性仕様(GPS)-平面度-第1部:用語及びパラメータ制)2019/2/20改正 履歴なし
JISB0684-2製品の幾何特性仕様(GPS)-平面度-第2部:仕様オペレータ制)2019/2/20改正 履歴なし
JISB7440-1製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査-第1部:用語制)2003/3/20改正 履歴なし
JISB7440-12製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定システム(CMS)の受入検査及び定期検査-第12部:多関節アーム座標測定機(CMM)制)2019/2/20改正 履歴なし
JISB7440-2製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査-第2部:長さ測定制)1997/11/20改)2013/10/21
JISB7440-3製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査-第3部:ロータリテーブル付き座標測定機制)2003/3/20改正 履歴なし
JISB7440-4製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査-第4部:スキャニング測定制)2003/3/20改正 履歴なし
JISB7440-5製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査-第5部:シングル及びマルチスタイラス測定制)2004/3/20改)2013/10/21
JISB7440-6製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査-第6部:ソフトウェア検査制)2004/3/20改正 履歴なし
JISB7440-7製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査-第7部:画像プローブシステム付き座標測定機制)2015/10/20改正 履歴なし
JISB7440-8製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定システム(CMS)の受入検査及び定期検査-第8部:光学式距離センサ付き座標測定機制)2015/6/22改正 履歴なし
JISB7440-9製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定システム(CMS)の受入検査及び定期検査-第9部:マルチセンサシステム付き座標測定機制)2017/2/20改正 履歴なし
JISB7443-3製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定機(CMM):測定不確かさの求め方-第3部:校正された測定物又は測定標準を使用する方法制)2015/10/20改正 履歴なし

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