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JIS規格表面

JIS規格 表面に関する 一覧表

JIS規格 表面に関する一覧

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規格番号規格名称制定日最新 改正日
JISA1111細骨材の表面水率試験方法制)1951/8/22改)2015/12/7
JISA1125骨材の含水率試験方法及び含水率に基づく表面水率の試験方法制)1976/6/12改)2015/12/7
JISA1509-6セラミックタイル試験方法-第6部:床タイルの耐表面摩耗性試験方法制)2008/3/20改)2014/6/20
JISA1531家具-常温液体に対する表面抵抗の試験方法制)1984/3/1改)1998/6/20
JISA1802コンクリート生産工程管理用試験方法-遠心力による細骨材の表面水率試験方法制)1989/11/1改)2009/3/20
JISA1803コンクリート生産工程管理用試験方法-粗骨材の表面水率試験方法制)1991/8/1改)2009/3/20
JISB0031製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状の図示方法制)1982/6/15改)2003/9/20
JISB0090-5光学素子及び光学システム用の製図手法-第5部:表面形状公差制)2001/3/20改)2010/5/20
JISB0090-7光学素子及び光学システム用の製図手法-第7部:表面欠陥制)2001/3/20改)2012/10/22
JISB0090-8光学素子及び光学システム用の製図手法-第8部:表面性状(粗さ及びうねり)制)2001/3/20改)2013/10/21
JISB0090-9光学素子及びシステム用の製図手法-第9部:表面処理及びコーティング制)2001/3/20改正 履歴なし
JISB0091光学素子及び光学システムの干渉測定-表面形状及び波面形状公差の用語及び定義制)2010/5/20改正 履歴なし
JISB0601製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状:輪郭曲線方式-用語,定義及び表面性状パラメータ制)1952/5/21改)2013/3/21
JISB0610製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状:輪郭曲線方式-転がり円うねりの定義及び表示制)1970/1/1改)2001/1/20
JISB0631製品の幾何特性仕様 (GPS)-表面性状:輪郭曲線方式-モチーフパラメータ制)2000/3/20改正 履歴なし
JISB0633製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状:輪郭曲線方式-表面性状評価の方式及び手順制)2001/1/20改正 履歴なし
JISB0651製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状:輪郭曲線方式-触針式表面粗さ測定機の特性制)1955/4/14改)2001/1/20
JISB0659-1製品の幾何特性仕様 (GPS) -表面性状:輪郭曲線方式;測定標準-第1部:標準片制)2002/3/20改正 履歴なし
JISB0670製品の幾何特性仕様 (GPS) -表面性状:輪郭曲線方式-触針式表面粗さ測定機の校正制)2002/3/20改正 履歴なし
JISB0671-1製品の幾何特性仕様 (GPS) -表面性状:輪郭曲線方式;プラトー構造表面の特性評価-第1部:フィルタ処理及び測定条件制)2002/3/20改正 履歴なし
JISB0671-2製品の幾何特性仕様 (GPS) -表面性状:輪郭曲線方式;プラトー構造表面の特性評価-第2部:線形表現の負荷曲線による高さの特性評価制)2002/3/20改正 履歴なし
JISB0671-3製品の幾何特性仕様 (GPS) -表面性状:輪郭曲線方式;プラトー構造表面の特性評価-第3部:正規確率紙上の負荷曲線による高さの特性評価制)2002/3/20改正 履歴なし
JISB0681-2製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状:三次元-第2部:用語,定義及び表面性状パラメータ制)2018/3/20改正 履歴なし
JISB0681-3製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状:三次元-第3部:仕様オペレータ制)2019/2/20改正 履歴なし
JISB0681-6製品の幾何特性仕様(GPS)-表面性状:三次元-第6部:表面性状測定方法の分類制)2014/7/22改正 履歴なし
JISB1041締結用部品―表面欠陥 第1部 一般要求のボルト,ねじ及び植込みボルト制)1993/7/1改正 履歴なし
JISB1042締結用部品―表面欠陥 第2部:ナット制)1994/2/1改)1998/1/20
JISB1043締結用部品―表面欠陥 第3部 特殊要求のボルト,ねじ及び植込みボルト制)1993/7/1改正 履歴なし
JISB1756歯車-研削後の表面焼戻しの化学的エッチング検査方法制)2008/4/20改)2017/5/22
JISB9924表面付着粒子計数器制)1990/3/1改正 履歴なし
JISC0806-3自動実装部品の包装-第3部:表面実装部品の連続テープによる包装制)1999/2/20改)2014/2/20
JISC0806-6自動実装部品のパッケージング-第6部:表面実装部品用バルクケースによるパッケージング制)2006/3/25改正 履歴なし
JISC2139-3-2固体電気絶縁材料の誘電特性及び抵抗特性-第3-2部:直流電圧印加による抵抗特性の測定-表面抵抗及び表面抵抗率制)2018/1/22改正 履歴なし
JISC2550-4電磁鋼帯試験方法-第4部:表面絶縁抵抗の測定方法制)2011/9/20改)2019/3/20
JISC2570-2直熱形NTCサーミスタ-第2部:品種別通則-表面実装形NTCサーミスタ制)2008/5/20改)2015/11/20
JISC5070表面実装技術-表面実装部品(SMD)の輸送及び保管条件-指針制)2002/3/20改)2009/12/21
JISC5101-18電子機器用固定コンデンサ-第18部:品種別通則-表面実装用固定アルミニウム固体(MnO2)及び非固体電解コンデンサ制)1999/2/20改)2019/3/20
JISC5101-18-1電子機器用固定コンデンサ-第18-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO2)電解コンデンサ-評価水準EZ制)1999/2/20改)2010/6/21
JISC5101-18-2電子機器用固定コンデンサ-第18-2部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ-評価水準EZ制)1999/2/20改)2010/6/21
JISC5101-20電子機器用固定コンデンサ-第20部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ制)2000/4/20改)2018/2/20
JISC5101-20-1電子機器用固定コンデンサ-第20-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ制)2000/4/20改)2010/6/21
JISC5101-21電子機器用固定コンデンサ-第21部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1制)2006/3/25改)2014/2/20
JISC5101-21-1電子機器用固定コンデンサ-第21-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水準EZ制)2006/3/25改正 履歴なし
JISC5101-22電子機器用固定コンデンサ-第22部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2制)2006/3/25改)2014/2/20
JISC5101-22-1電子機器用固定コンデンサ-第22-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水準EZ制)2006/3/25改正 履歴なし
JISC5101-23電子機器用固定コンデンサ-第23部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィルム直流コンデンサ制)2008/5/20改)2018/2/20
JISC5101-23-1電子機器用固定コンデンサ-第23-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ制)2008/5/20改正 履歴なし
JISC5101-24電子機器用固定コンデンサ-第24部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ制)2009/12/21改)2018/2/20
JISC5101-24-1電子機器用固定コンデンサ-第24-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ-評価水準EZ制)2009/12/21改正 履歴なし
JISC5101-25電子機器用固定コンデンサ-第25部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ制)2009/12/21改)2018/2/20
JISC5101-25-1電子機器用固定コンデンサ-第25-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ-評価水準EZ制)2009/12/21改正 履歴なし
JISC5101-3電子機器用固定コンデンサ-第3部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(MnO2)電解コンデンサ制)1998/7/20改)2010/6/21
JISC5101-3-1電子機器用固定コンデンサ-第3-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(MnO2)電解コンデンサ 評価水準EZ制)1998/7/20改)2010/6/21
JISC5201-8電子機器用固定抵抗器-第8部:品種別通則:表面実装用固定抵抗器制)1998/7/20改)2014/2/20
JISC5201-8-1電子機器用固定抵抗器-第8-1部:ブランク個別規格:一般電子機器向け表面実装用低電力皮膜固定抵抗器,製品性能水準G制)1998/7/20改)2014/11/20
JISC5201-9電子機器用固定抵抗器-第9部:品種別通則:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器制)2006/3/25改正 履歴なし
JISC5201-9-1電子機器用固定抵抗器-第9-1部:ブランク個別規格:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器-評価水準EZ制)2006/3/25改正 履歴なし
JISC60068-2-58環境試験方法-電気・電子-第2-58部:表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法制)1994/4/1改)2016/12/20
JISC60068-2-77環境試験方法-電気・電子-表面実装部品(SMD)の本体強度及び耐衝撃性試験方法制)2002/3/20改正 履歴なし
JISC60068-2-83環境試験方法-電気・電子-第2-83部:試験Tf-ソルダペーストを用いた平衡法による表面実装部品(SMD)のはんだ付け性試験方法制)2014/9/22改正 履歴なし
JISC60695-9-1耐火性試験-電気・電子-第9-1部:表面の炎の広がり-一般指針制)2002/3/20改)2008/12/20
JISC61191-1プリント配線板実装-第1部:通則-表面実装及び関連する実装技術を用いた電気機器・電子機器用はんだ付け実装要求事項制)2006/3/25改)2015/11/20
JISC61191-2プリント配線板実装-第2部:部門規格-表面実装はんだ付け要求事項制)2006/3/25改)2015/11/20
JISC61760-4表面実装技術-第4部:感湿性部品の分類,包装,表示及び取扱い制)2016/12/20改正 履歴なし
JISC62024-1高周波誘導部品-電気的特性及び測定方法-第1部:ナノヘンリー範囲の表面実装インダクタ制)2006/3/25改)2011/1/20
JISC62025-1高周波誘導部品-非電気特性及び測定方法-第1部:電子機器及び通信機器用表面実装固定インダクタ及びフェライトビーズ制)2006/3/25改)2011/1/20
JISC62137-1-1表面実装技術-はんだ接合部耐久性試験方法-第1-1部:引きはがし強度試験方法制)2010/5/20改正 履歴なし
JISC62137-1-2表面実装技術-はんだ接合部耐久性試験方法-第1-2部:横押しせん断強度試験方法制)2010/5/20改正 履歴なし
JISC62137-1-3表面実装技術-はんだ接合部耐久性試験方法-第1-3部:繰返し落下試験方法制)2011/12/20改正 履歴なし
JISC62137-1-4表面実装技術-はんだ接合部耐久性試験方法-第1-4部:繰返し曲げ試験方法制)2011/12/20改正 履歴なし
JISC62137-1-5表面実装技術-はんだ接合部耐久性試験方法-第1-5部:せん断疲労試験方法制)2011/12/20改正 履歴なし
JISC62137-4電子実装技術-第4部:エリアアレイ形表面実装部品のはんだ接合部耐久性試験方法制)2016/3/22改正 履歴なし
JISC62739-1溶融鉛フリーはんだを用いたウエーブソルダリング装置の侵食試験方法-第1部:表面処理を施さない金属材料の侵食試験方法制)2015/4/20改正 履歴なし
JISC62739-2溶融鉛フリーはんだを用いたウェーブソルダリング装置の侵食試験方法-第2部:表面処理を施した金属材料の侵食試験方法制)2019/3/20改正 履歴なし
JISC6575-4ミニチュアヒューズ-第4部:UMヒューズリンク(UMF)並びにその他の端子挿入形及び表面実装形ヒューズリンク制)1999/3/20改)2016/1/20
JISC6760弾性表面波デバイス用単結晶ウェハ-仕様及び測定法制)2014/6/20改正 履歴なし
JISC8105-2-24照明器具-第2-24部:表面温度を制限した照明器具に関する安全性要求事項制)2013/12/20改正 履歴なし
JISC9335-2-54家庭用及びこれに類する電気機器の安全性-第2-54部:液体又は蒸気利用表面掃除機器の個別要求事項制)2000/3/20改)2005/12/20
JISG0563鉄鋼の窒化層表面硬さ測定方法制)1993/3/1改正 履歴なし
JISG0594表面処理鋼板のサイクル腐食促進試験方法制)2004/3/20改)2019/6/20
JISG0595ステンレス鋼の表面さび発生程度評価方法制)2004/9/20改正 履歴なし
JISG1211-4鉄及び鋼-炭素定量方法-第4部:表面付着・吸着炭素除去-燃焼-赤外線吸収法制)2011/3/22改)2017/6/20
JISH0201アルミニウム表面処理用語制)1970/10/1改)1998/11/20
JISH0211ドライプロセス表面処理用語制)1992/12/1改正 履歴なし
JISH7307超電導-エレクトロニクス特性測定法-超電導体のマイクロ波表面抵抗制)2005/2/20改)2010/3/23
JISK0141表面化学分析-データ転送フォーマット制)2000/7/20改正 履歴なし
JISK0142表面化学分析-情報フォーマット制)2000/7/20改正 履歴なし
JISK0143表面化学分析-二次イオン質量分析法-シリコン中に均一に添加されたボロンの原子濃度の定量方法制)2000/7/20改正 履歴なし
JISK0144表面化学分析-グロー放電発光分光分析方法通則制)2001/4/20改)2018/2/20
JISK0145表面化学分析-X線光電子分光装置-エネルギー軸目盛の校正制)2002/3/20改正 履歴なし
JISK0146表面化学分析-スパッター深さ方向分析-層構造系標準物質を用いた最適化法制)2002/3/20改正 履歴なし
JISK0147-1表面化学分析-用語-第1部:一般用語及び分光法に関する用語制)2017/8/21改正 履歴なし
JISK0147-2表面化学分析-用語-第2部:走査型プローブ顕微鏡に関する用語制)2017/8/21改正 履歴なし
JISK0148表面化学分析-全反射蛍光X線分析法(TXRF)によるシリコンウェーハ表面汚染元素の定量方法制)2005/3/20改正 履歴なし
JISK0150表面化学分析-亜鉛及び/又はアルミニウム基金属めっきのグロー放電発光分光分析方法制)2009/2/20改正 履歴なし
JISK0152表面化学分析-X線光電子分光法-強度目盛の繰返し性,再現性及び一定性制)2014/7/22改正 履歴なし
JISK0153表面化学分析-二次イオン質量分析法-スタティック二次イオン質量分析法における相対イオン強度目盛の繰返し性,再現性及び一定性の確認方法制)2015/10/20改正 履歴なし
JISK0154表面化学分析-分析試料の準備及び取付けに関する指針制)2017/8/21改正 履歴なし
JISK0155表面化学分析-二次イオン質量分析法-単一イオン計数飛行時間形質量分析器における強度軸の線形性制)2018/9/20改正 履歴なし
JISK0156表面化学分析-二次イオン質量分析法-デルタ多層標準物質を用いたシリコンの深さ校正方法制)2018/8/20改正 履歴なし
JISK0160表面化学分析-シリコンウェーハ表面からの金属の化学的回収方法及び全反射蛍光X線(TXRF)分析法による定量方法制)2009/7/20改正 履歴なし
JISK0161表面化学分析-オージェ電子分光法-装置性能を示す主要な項目の記載方法制)2010/4/20改正 履歴なし
JISK0162表面化学分析-X線光電子分光法-装置性能を示す主要な項目の記載方法制)2010/4/20改正 履歴なし
JISK0163表面化学分析-二次イオン質量分析法-イオン注入標準物質を用いた相対感度係数の決定方法制)2010/4/20改正 履歴なし
JISK0164表面化学分析-二次イオン質量分析法-シリコン内のボロンの深さ方向分布測定方法制)2010/4/20改正 履歴なし
JISK0165表面化学分析-汎用オージェ電子分光器による元素分析のためのエネルギー軸の校正方法制)2011/5/20改正 履歴なし
JISK0166表面化学分析-高エネルギー分解能をもつオージェ電子分光器による元素分析及び化学結合状態分析のためのエネルギー軸の校正方法制)2011/5/20改正 履歴なし
JISK0167表面化学分析-オージェ電子分光法及びX線光電子分光法-均質物質定量分析のための実験的に求められた相対感度係数の使用指針制)2011/3/22改正 履歴なし
JISK0168表面化学分析-スタティック二次イオン質量分析法の情報フォーマット制)2011/3/22改正 履歴なし
JISK0169表面化学分析-二次イオン質量分析法-デルタ多層標準物質を用いた深さ分解能パラメータ評価方法制)2012/4/20改正 履歴なし
JISK3921床用洗剤-表面洗剤及び剝離剤-試験方法制)2019/1/21改正 履歴なし
JISK5600-3-2塗料一般試験方法-第3部:塗膜の形成機能-第2節:表面乾燥性(バロチニ法)制)1999/4/20改正 履歴なし
JISK6217-2ゴム用カーボンブラック-基本特性-第2部:比表面積の求め方-窒素吸着法-単点法制)2001/11/20改)2017/11/20
JISK6217-3ゴム用カーボンブラック-基本特性-第3部:比表面積の求め方-CTAB吸着法制)2001/11/20改正 履歴なし
JISK6217-7ゴム用カーボンブラック-基本特性-第7部:ゴム配合物-多点法窒素比表面積(NSA)及び統計的厚さ比表面積(STSA)の求め方制)2008/11/20改)2013/9/20
JISK6378-4ライトコンベヤベルト-表面電気抵抗の求め方制)2015/9/24改正 履歴なし
JISK6848-2接着剤-接着強さ試験方法-第2部:接着前の金属及びプラスチックの表面調整のための指針制)1999/8/20改)2016/3/22
JISK6848-4接着剤-接着強さ試験方法-第4部:金属,プラスチックを除く被着材の表面調整のための指針制)1999/8/20改正 履歴なし
JISL1917繊維製品の表面フラッシュ燃焼性試験方法制)2000/10/20改正 履歴なし
JISP8151紙及び板紙-表面粗さ及び平滑度試験方法(エア・リーク法)-プリント・サーフ試験機法制)2004/3/20改正 履歴なし
JISR1626ファインセラミックス粉体の気体吸着BET法による比表面積の測定方法制)1996/7/1改正 履歴なし
JISR1636ファインセラミックス薄膜の膜厚試験方法-触針式表面粗さ計による測定方法制)1998/1/20改正 履歴なし
JISR1683原子間力顕微鏡によるファインセラミックス薄膜の表面粗さ測定方法制)2007/11/20改)2014/10/20
JISR1802遠赤外ヒータの表面温度測定方法-熱電対法制)2005/3/20改正 履歴なし
JISR3256基板ガラス表面の電気抵抗率の測定方法制)1998/1/20改正 履歴なし
JISR3257基板ガラス表面のぬれ性試験方法制)1999/3/20改正 履歴なし
JIST5110歯科-歯科器械の表面材料-消毒剤に対する耐久性試験制)2018/3/1改正 履歴なし
JIST7336耐きず性をもつ屈折補正用眼鏡レンズの表面の要求事項制)2011/7/29改正 履歴なし
JISZ3284-2ソルダペースト-第2部:はんだ粉末の形状,表面状態判定及び粒度分布測定試験制)2014/6/20改正 履歴なし
JISZ4329放射性表面汚染サーベイメータ制)1985/6/1改)2004/3/20
JISZ4334放射性表面汚染モニタ校正用標準線源-α線,β線及びX・γ線放出核種制)1992/3/1改)2019/2/20
JISZ4337据置形β線用物品表面汚染モニタ制)1997/7/20改)2011/11/21
JISZ4338ハンドフットモニタ及び体表面汚染モニタ-α線及び/又はβ線用ハンドフットモニタ及び体表面汚染モニタ制)1997/11/20改)2006/3/25
JISZ4504放射性表面汚染の測定方法-β線放出核種(最大エネルギー0.15MeV以上)及びα線放出核種制)1958/3/3改)2008/1/20
JISZ4507放射性物質で汚染された表面の除染-除染の容易性の試験及び評価の方法制)1962/9/1改)1998/7/20
JISZ8716表面色の比較に用いる常用光源蛍光ランプD65-形式及び性能制)1991/9/1改正 履歴なし
JISZ8723表面色の視感比較方法制)1961/12/1改)2000/5/20
JISZ8830ガス吸着による粉体(固体)の比表面積測定方法制)1990/7/1改)2013/1/21

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