JISZ84まとめ 1ページ目

JISZ8462-3:2006の規格は,合理的に予想されるほとんどの目的に適合し,正味の状態変数の値がゼロになるように選ばれた参照状態に対し,その参照状態で繰り返し測定して得た測定値の平均値及び標準偏差から,応答変数の限界値について推定する方法を規定。

JISZ8402-5:2002の規格は,標準測定方法の併行標準偏差及び再現標準偏差を求めるための基本的方法に対する代替方法,すなわち水準分割計画及び不均質物質に関する計画の詳細;計算からデータを除外するための外れ値の検定を行うことなく精度評価実験の結果を解析するロバストな方法,特にその詳細な適用方法を規定。

JISZ8404-1:2018の規格は,次の事項[-JISZ8402-2:1999に従って実施した共同実験によって得られたデータを利用する測定の不確かさの評価。;-共同実験による結果と,不確かさの伝ぱ(播)則を用いて得られた測定の不確かさとの比較(箇条14参照)。]を実施するときの指針を示す。

JISZ8404-2:2008の規格は,不確かさの成分が,繰返し測定,測定機器,試験項目又は検査用標準の統計解析から見積もることができるような実験的状況について規定。1段,2段又は3段の枝分かれ実験から不確かさを見積もる場合だけを規定。

JISZ8462-5:2011の規格は,応答変数に関する精度プロファイル,すなわち,応答変数の標準偏差(SD)又は変動係数(CV)を正味状態変数の関数として記述する。;この精度プロファイルを検量線に関連させて正味状態変数に対する精度プロファイルに変換する。;この正味状態変数に対する精度プロファイルを使って,正味状態変数の限界値及び検出可能な最小値を推定する。;基本的方法について規定。

JISZ8461:2001の規格は,測定システムを校正(検量線作成)し,”校正(検量線作成)”した測定システムを統計的に管理された状態に維持するために必要な一般的原理について概説し,次の測定値の可変性に関連する二つの仮定のいずれか一つに基づく直線で表される校正関数(検量線)の推定;校正関数(検量線)の直線性の仮定と,測定値の可変性に関する仮定のチェック;ある新規,かつ,未知の量に関して校正関数(検量線)によって得られた測定値を変換することによる,その量の値の推定を行うための基本的方法を規定。

JISZ8402-6:1999の規格は,目的は,いろいろの実際の状況で,精確さに関するデータを使用する方法を示す。

JISZ8402-2:1999の規格は,試験室間共同実験をとおして,測定方法の精度を定量的に推定するための実験を,計画する際に遵守すべき一般的原則を詳述し,測定方法の精度を推定するのに日常に用いる基本的方法について,詳細かつ実用的な説明を提供し,精度を推定するための計画,実施及び測定結果の解析を行うに関係者に指針を提供。

JISZ8462-4:2006の規格は,校正関数(検量線)が直線であり,かつ,残差標準偏差の値と正味状態変数の値との間に特定の関係がある,というJISZ8462-2の前提条件を仮定しない場合の測定方法の検出能力の評価について規定。

JISZ8462-2:2003の規格は,正味状態変数の限界値,応答変数の限界値及び検出可能な最小正味状態変数値を推定するための実験を計画する;校正関数(検量線)が直線であり,応答変数の標準偏差が一定の場合又は正味状態変数と直線関係にある場合に,実験データから正味状態変数の限界値,応答変数の限界値,及び検出可能な最小正味状態変数値を規定。