JISB74まとめ 2ページ目

JISB7450:1989の規格は,スケール及び検出ヘッドをケースに一体形に組み込んだ,最小表示量が0.0005mm~0.01mm,有効長が100mm~3000mmのディジタルスケールについて規定。

JISB7443-3:2015の規格は,座標測定機及び校正された測定物(参照標準として使用する。)又は測定標準を使って,未知の測定物の測定結果に対する測定不確かさの求め方について規定。

JISB7451:1997の規格は,検出器によって対象物の円形形体の円周方向の半径の変化を測定することを目的とする接触式真円度測定機について規定。

JISB7440-12:2019の規格は,校正された検査用の長さを測定することによって,多関節アーム座標測定機の性能が製造業者の指定する仕様に適合するかどうかを検証するための受入検査について規定。さらに,使用者が多関節アーム座標測定機の性能を定期的に検証するための定期検査についても規定。検査の頻度,及びいつ検査を行うのかについては規定していない。また,検査のコストを誰が負担するべきかについても規定していない。

JISB7433:1989の規格は,光学部品の表面の真球度及び曲率半径の基準として用いるニュートンゲージについて規定。

JISB7414:2018の規格は,目盛範囲が-100℃~+500℃の棒状又は二重管の液体封入ガラス製温度計(以下,温度計という。)で,かつ,棒状については全浸没用又は部分浸没用とし,二重管については全浸没用に目盛られた温度計について規定。

JISB7440-9:2017の規格は,接触モード及び非接触モードでマルチセンサシステムを使用する座標測定機の性能が,製造業者の仕様に適合するかどうかを検証するための受入検査について規定。

JISB7440-7:2015の規格は,画像プローブシステムをもつ座標測定機の性能の受入検査及び定期検査について規定。

JISB7440-1:2003の規格は,座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査に関する用語について規定。