JIS B 7440-7 最新規格 製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査-第7部:画像プローブシステム付き座標測定機|JIS規格一覧|更新改正情報|制定

JIS B 7440-7の規格 製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査-第7部:画像プローブシステム付き座標測定機の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JISB7440-7:2015の規格は,画像プローブシステムをもつ座標測定機の性能の受入検査及び定期検査について規定。

製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査-第7部:画像プローブシステム付き座標測定機 規格 一覧表

JIS B 7440-7

製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査-第7部:画像プローブシステム付き座標測定機の一覧

最新 JISB7440-7:2015の更新 情報詳細

JIS B 7440-7:2015の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS B 7440-7 JIS改正 最新・更新日
規格名称 製品の幾何特性仕様(GPS)-座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査-第7部:画像プローブシステム付き座標測定機
英語訳 Geometrical product specifications (GPS)– Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) – Part 7: CMMs equipped with imaging probing systems
対応国際規格 ISO ISO 10360-7:2011(IDT)
主務大臣 経済産業 制定 年月日 2015/10/20
略語・記号 No JIS B 7440-7:2015
ICS 17.040.30JISハンドブック 機械計測:2019
改訂 履歴 2015-10-20(制定)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS B 7440-7:2015の関連規格と引用規格一覧

JIS B 7440-7:2015の引用国際規格一覧

  • ISO/IEC Guide 99
  • ISO/TS 23165:2006

日本産業規格の一覧

日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照

ゲージ、長さ、角度、面・形状、基本(幾何特性)

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