JISH0まとめ 2ページ目

JISH0530:1993の規格は,復水器用黄銅管,復水器用白銅管などの銅合金管の分極抵抗の測定方法について規定。

JISH0603:1978の規格は,ゲルマニウム単結晶中の少数キャリアのライフタイムを光導電減衰法により測定する方法について規定。

JISH0542:2008の規格は,曲げ,張出し,深絞りなどの成形に使用する,マグネシウム合金の圧延板の結晶粒度を決定する試験方法について規定。

JISH0604:1995の規格は,シリコン単結晶中の少数キャリアのバルク再結合ライフタイムを直流回路を用いた光導電減衰法によって測定する方法について規定。

JISH0515:1992の規格は,チタン管目無管及び溶接管のきずを検出する渦流探傷方法について規定。

JISH0517:2004の規格は,チタン溶接管の気密性を確認するための差圧試験方法について規定。

JISH0544:2017の規格は,マグネシウム合金を用いた鋳造材,展伸材などの燃焼試験方法について規定。

JISH0613:1978の規格は,シリコンのスライス又はラップしたウエーハの外観検査について規定。

JISH0609:1999の規格は,シリコーンウェーハの結晶欠陥を六価クロムを含まない選択エッチング液によって検出し測定する方法について規定。対象は,単結晶ウェーハ,エピタキシャルウェーハ及びこれらの熱酸化ウェーハで,これらの結晶面方位は,{100}面,{111}面及び{511}面の3種類とする。

JISH0615:1996の規格は,フォトルミネッセンスによるシリコン単結晶及び多結晶シリコンの不純物濃度の測定方法について規定。測定可能な不純物元素は,ボロン(B),アルミニウム(A1),りん(P),及びひ素(As)で測定濃度範囲は1×10*11~5×10*15atoms/cm*3(0.002~100ppba)である。