JIS C 5630-6 最新規格 マイクロマシン及びMEMS-第6部:薄膜材料の軸荷重疲労試験方法|JIS規格一覧|更新改正情報|制定

JIS C 5630-6の規格 マイクロマシン及びMEMS-第6部:薄膜材料の軸荷重疲労試験方法の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JISC5630-6:2011の規格は,長さ及び幅が1mm以下,かつ,厚さが0.1μm~10μmの範囲の薄膜材料に対する一定力振幅又は一定変位振幅下における軸荷重引張-引張力疲労試験方法について規定。

マイクロマシン及びMEMS-第6部:薄膜材料の軸荷重疲労試験方法 規格 一覧表

JIS C 5630-6

マイクロマシン及びMEMS-第6部:薄膜材料の軸荷重疲労試験方法の一覧

最新 JISC5630-6:2011の更新 情報詳細

JIS C 5630-6:2011の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS C 5630-6 JIS改正 最新・更新日
規格名称 マイクロマシン及びMEMS-第6部:薄膜材料の軸荷重疲労試験方法
英語訳 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
対応国際規格 ISO IEC 62047-6:2009(IDT)
主務大臣 経済産業 制定 年月日 2011/8/22
略語・記号 No JIS C 5630-6:2011
ICS 31.080.99JISハンドブック
改訂 履歴 2011-08-22(制定),2016-10-20(確認)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS C 5630-6:2011の関連規格と引用規格一覧

日本産業規格の一覧

日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
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