JISC56まとめ 1ページ目

JIS C 5630-28の規格 マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第２８部：ＭＥＭＳエレクトレット振動発電デバイスの性能試験方法の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！

JIS C 5630-30の規格 マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第３０部：ＭＥＭＳ圧電薄膜の電気機械的変換特性の測定方法の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！

JISC5630-6:2011の規格は,長さ及び幅が1mm以下,かつ,厚さが0.1μm~10μmの範囲の薄膜材料に対する一定力振幅又は一定変位振幅下における軸荷重引張-引張力疲労試験方法について規定。

JISC5630-19:2014の規格は,磁気センサ及び加速度センサ,又は磁気センサだけで構成する電子コンパスの用語,定義,定格特性及び測定法について規定。

JISC5600:2006の規格は,電子技術に用いる主な基本用語とその定義について規定。

JISC5603:1993の規格は,電子機器に用いるプリント回路に関する用語の定義について規定。

JISC5630-18:2014の規格は,長さ及び幅が1mm以下で,かつ,厚さが0.1μm~10μmの薄膜材料の曲げ試験方法について規定。

JISC5630-12:2014の規格は,マイクロマシン及びMEMS(Micro-ElectroMechanical Systems)に用いる微小機械構造体の共振振動を用いた曲げ疲労試験方法について規定。

JISC5610:1996の規格は,集積回路に用いる用語の定義について規定。

JISC5630-3:2009の規格は,MEMS(micro-electromechanical systems),マイクロマシンなどの主要な構成部材となる,長さ1mm以下,幅1mm以下,厚さ10μm以下の微小薄膜形状材料の引張強さ試験を実施する試験機の健全性及び精度を保証するために用いる標準試験片について規定。