JISB74まとめ 1ページ目

JISB7440-2:2013の規格は,長さ測定における座標測定機の性能の受入検査及び定期検査について規定。規定する受入検査及び定期検査は,離散点プロービングで使用する全ての形式の接触プロービングシステムを用いた直交形座標測定機だけに適用。

JISB7440-4:2003の規格は,スキャニング測定機能をもつ座標測定機の性能が,製造業者の仕様に適合しているかどうかを検証する受入検査及び使用者がスキャニング測定機能をもつ座標測定機の性能を定期的に検証するための定期検査について規定。受入検査及び定期検査は,接触プロービングシステムでスキャニング測定が不可能な座標測定機にだけ適用。

JISB7432:1985の規格は,角度の標準として用いる多面鏡について規定。

JISB7440-8:2015の規格は,長さ測定における座標測定機の性能が,製造業者の仕様に適合するかどうかを検証するための受入検査について規定。使用者が定期的に検証するための定期検査についても規定。

JISB7420:1997の規格は,JISB0401に規定する公差等級IT6~IT16を適用する500mm以下の包絡の条件を満たす穴及び軸の寸法検査に用いる限界プレーンゲージ及び挟みゲージ用基準円盤について規定。

JISB7440-6:2004の規格は,座標測定から当てはめ形体を計算するために用いるソフトウェアを検査する方法について規定。

JISB7442:2013の規格は,産業用X線CT装置及びその応用に関する主な用語及び定義について規定。

JISB7440-3:2003の規格は,ロータリテーブル付き座標測定機の性能が,製造業者の仕様に適合しているかどうかを検証するための受入検査及び使用者がロータリテーブル付き座標測定機の性能を定期的に検証するための定期検査について規定。受入検査及び定期検査は,ロータリテーブル付き座標測定機にだけ適用。

JISB7410:1997の規格は,石油類の試験に用いるガラス製棒状温度計について規定。

JISB7440-5:2013の規格は,接触式プロービングシステムをもつ座標測定機の性能の受入検査及び定期検査について規定。