JIS B 7440-4 最新規格 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）－座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査－第４部：スキャニング測定｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS B 7440-4の規格 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）－座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査－第４部：スキャニング測定の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISB7440-4:2003の規格は,スキャニング測定機能をもつ座標測定機の性能が,製造業者の仕様に適合しているかどうかを検証する受入検査及び使用者がスキャニング測定機能をもつ座標測定機の性能を定期的に検証するための定期検査について規定。受入検査及び定期検査は,接触プロービングシステムでスキャニング測定が不可能な座標測定機にだけ適用。
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製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）－座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査－第４部：スキャニング測定 規格 一覧表
製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）－座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査－第４部：スキャニング測定の一覧
最新 JISB7440-4:2003の更新 情報詳細
JIS B 7440-4：2003の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS B 7440-4 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）－座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査－第４部：スキャニング測定 | ||
| 英語訳 | Geometrical Product Specifications (GPS) – Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) – Part 4: CMMs used in scanning measuring mode | ||
| 対応国際規格 ISO | ISO 10360-4:2000(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2003/3/20 |
| 略語・記号 | No | JIS B 7440-4:2003 | |
| ICS | 17.040.30 | JISハンドブック | 機械計測:2019 |
| 改訂 履歴 | 2003-03-20(制定)，2008-10-01(確認)，2013-10-21(確認)，2018-10-22(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS B 7440-4:2003の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS B 0641-1 | 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）－製品及び測定装置の測定による検査－第１部：仕様に対する合否判定基準 |
| JIS B 7440-1 | 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）－座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査－第１部：用語 |
| JIS B 7440-12 | 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）－座標測定システム（ＣＭＳ）の受入検査及び定期検査－第１２部：多関節アーム座標測定機（ＣＭＭ） |
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
