JIS C 5953-5 最新規格 光伝送用能動部品－性能標準－第５部：半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生回路内蔵ＡＴＭ－ＰＯＮ用光トランシーバ｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 5953-5の規格 光伝送用能動部品－性能標準－第５部：半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生回路内蔵ＡＴＭ－ＰＯＮ用光トランシーバの一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC5953-5:2008の規格は,ITU-T G.983.1に基づくATM-PONシステムに用いる光トランシーバの性能標準について規定。
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光伝送用能動部品－性能標準－第５部：半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生回路内蔵ＡＴＭ－ＰＯＮ用光トランシーバ 規格 一覧表
光伝送用能動部品－性能標準－第５部：半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生回路内蔵ＡＴＭ－ＰＯＮ用光トランシーバの一覧
最新 JISC5953-5:2008の更新 情報詳細
JIS C 5953-5：2008の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 5953-5 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 光伝送用能動部品－性能標準－第５部：半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生回路内蔵ＡＴＭ－ＰＯＮ用光トランシーバ | ||
| 英語訳 | Fiber optic active components and devices – Performance standards – Part 5: ATM-PON transceivers with LD driver and CDR ICs | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 62149-5:2003(MOD) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2008/10/20 |
| 略語・記号 | No | JIS C 5953-5:2008 | |
| ICS | 33.180.20 | JISハンドブック | 電子II-1:2018 |
| 改訂 履歴 | 2008-10-20(制定)，2013-10-21(確認)，2018-10-22(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 5953-5:2008の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS C 5952-1 | 光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第１部：総則 |
| JIS C 5952-10 | 光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第１０部：ＭＵ（Ｆ１４形）コネクタ付２０ピンＳＦＦ形光トランシーバ |
| JIS C 5952-11 | 光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第１１部：１４ピン変調器集積形半導体レーザ送信モジュール |
| JIS C 5952-12 | 光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第１２部：同軸形高周波コネクタ付半導体レーザ送信モジュール |
| JIS C 5952-6 | 光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第６部：ＡＴＭ－ＰＯＮ用光トランシーバ |
| JIS C 5954-2 | 光伝送用能動部品－試験及び測定方法－第２部：ＡＴＭ－ＰＯＮ用光トランシーバ |
| JIS C 5961 | 光ファイバコネクタ試験方法 |
| JIS C 60068-2-27 | 環境試験方法－電気・電子－第２－２７部：衝撃試験方法（試験記号：Ｅａ） |
| JIS C 60068-2-6 | 環境試験方法－電気・電子－第２－６部：正弦波振動試験方法（試験記号：Ｆｃ） |
| JIS C 60068-2-60 | 環境試験方法－電気・電子－第２－６０部：混合ガス流腐食試験（試験記号：Ｋｅ） |
| JIS C 60068-2-61 | 環境試験方法－電気・電子－一連耐候性試験 |
| JIS C 60068-2-64 | 環境試験方法－電気・電子－第２－６４部：広帯域ランダム振動試験方法及び指針（試験記号：Ｆｈ） |
| JIS C 60068-2-65 | 環境試験方法－電気・電子－第２－６５部：音響振動（試験記号：Ｆｇ） |
| JIS C 60068-2-66 | 環境試験方法－電気・電子－高温高湿，定常（不飽和加圧水蒸気） |
| JIS C 60068-2-67 | 環境試験方法－電気・電子－基本的に構成部品を対象とした高温高湿，定常状態の促進試験 |
| JIS C 60068-2-68 | 環境試験方法－電気・電子－砂じん（塵）試験 |
| JIS C 60068-2-69 | 環境試験方法－電気・電子－第２－６９部：試験－試験Ｔｅ／Ｔｃ：電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法（平衡法） |
| JIS C 6802 | レーザ製品の安全基準 |
JIS C 5953-5:2008の引用国際規格一覧
- IEC 60950-1
- IEC 61000-6-3
- IEC 61280-1-1
- IEC 61280-1-3
- IEC 61280-2-2
- IEC 61300-2-19
- IEC 61300-2-4
- IEC 61300-3-6:2003
- IEC 61753-1-1
- ITU-T G.983.1
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
