JIS C 6802 レーザ製品の安全基準|日本産業規格|最新情報 更新 改正制定

JIS C 6802 レーザ製品の安全基準の日本産業規格 JISC6802の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JIS C6802:2018の規格は,波長範囲180nm~1mmのレーザ放射を放出するレーザ製品の安全基準について規定。

レーザ製品の安全基準 規格 一覧表

JIS C 6802

レーザ製品の安全基準の一覧

最新 JIS C6802 規格の詳細 更新日 情報

JIS C 6802:2018の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS C6802 JIS改正 最新・更新日 2018年10月22日
規格名称 レーザ製品の安全基準
英語訳 Safety of laser products
対応国際規格 ISO
対応国際規格 IECIEC 60825-1:2014(IDT)
主務大臣 経済産業 制定 年月日 1988年11月01日
略語・記号 No JIS C6802:2018
ICS 13.110,31.260JISハンドブック 電子II-2:2018,医療機器III:2018
改訂 履歴 1988-11-01 (制定),1991-05-01 (改正),1997-12-20 (改正),1998-05-20 (改正),2005-01-20 (改正),2009-10-01 (確認),2011-03-22 (改正),2014-09-22 (改正),2018-10-22 (改正)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS C6802:2018 目次

  • 序文
  • 1 適用範囲と目的
  • 2 引用規格
  • 3 用語と定義
  • 4 クラス分けの原則
  •  4.1 一般事項
  •  4.2 クラス分けに対する責任
  •  4.3 クラス分けの規則
  •  4.4 従来形のランプとして機能するように設計されたレーザ製品
  • 5 被ばく放出レベルの決定とレーザ製品のクラス分け
  •  5.1 試験
  •  5.2 レーザ放射の測定
  •  5.3 レーザ製品のクラスの決定
  •  5.4 測定光学系
  • 6 技術的仕様
  •  6.1 一般注意事項と改造
  •  6.2 保護きょう体
  •  6.3 アクセスパネルとセーフティインタロック
  •  6.4 リモートインタロックコネクタ
  •  6.5 マニュアルリセット(手動再設定)
  •  6.6 鍵による制御
  •  6.7 レーザ放射の放出警告
  •  6.8 ビーム終端器又は減衰器
  •  6.9 制御部
  •  6.10 観察用光学装置
  •  6.11 走査に対する安全防御
  •  6.12 クラス1C製品のための安全防御
  •  6.13 「歩行」立入り
  •  6.14 環境条件
  •  6.15 その他の危険性に対する保護
  •  6.16 出力制限回路
  • 7 ラベル
  •  7.1 一般事項
  •  7.2 クラス1とクラス1M
  •  7.3 クラス1C
  •  7.4 クラス2とクラス2M
  •  7.5 クラス3R
  •  7.6 クラス3B
  •  7.7 クラス4
  •  7.8 開口ラベル
  •  7.9 放射出力と規格情報
  •  7.10 アクセスパネルに対するラベル
  •  7.11 不可視レーザ放射に対する警告
  •  7.12 可視レーザ放射に対する警告
  •  7.13 皮膚と前眼部への潜在的危険性に対する警告
  • 8 その他の必要な情報
  •  8.1 使用者に対する情報
  •  8.2 購入とサービスのための情報
  • 9 特定のレーザ製品に対する付加的な要求事項
  •  9.1 IEC 60825規格群のその他の部と関連JIS
  •  9.2 医用レーザ製品
  •  9.3 レーザ加工機
  •  9.4 電気玩具
  •  9.5 消費者用電子製品
  • 附属書A(参考)最大許容露光量
  • 附属書B(参考)計算例
  • 附属書C(参考)クラスと付随する潜在的危険性に関する説明
  • 附属書D(参考)生物物理学的検討
  • 附属書E(参考)放射輝度で表したMPEとAEL
  • 附属書F(参考)要約表
  • 附属書G(参考)IEC 60825規格群の各部の概要
  • 附属書JA(参考)使用者への指針

適用範囲と目的 [1]

この規格は,波長範囲180 nm~1 mmのレーザ放射を放出するレーザ製品の安全基準について規定する。

波長180 nm未満(真空紫外領域)を放射するレーザは,存在はするが,このレーザビームは,通常,真空容器の中に閉じ込めなければならず,潜在的な光放射による危険が本質的に最小限である。したがって,この規格の適用範囲外とする。 レーザ製品は,電源を別にもつもの若しくは内蔵しているもの又は単一のレーザからなるものでもよい。さらに,光学的,電気的又は機械的複合システムの中に一つ又は複数のレーザを組み込んでいてもよい。一般に,レーザ製品は,物理的と光学的現象の実演,材料の加工,データの読取りと蓄積,情報の伝達と表示などに利用される。これらのシステムは,工業,商業,娯楽,研究,教育,医用,消費者向け製品などの用途に用いられている。

最終製品は,それ自体この規格に従うことになるが,システムの一部として他の製造業者へ販売されるレーザ製品は,この規格の対象とならない。最終製品用の修理部品として使用するために,最終製品の製造業者によって,又はその製造業者のために売られるレーザ製品も,この規格の適用範囲外である。ただし,レーザ製品内のレーザシステムが最終装置から取り外されても運転可能な場合,この取外し可能なレーザシステムは,この規格の要求事項を適用する。

注記1 運転可能な装置は,運転の準備のために工具を必要としない。

箇条4と箇条5に従って製造業者が行ったクラス分けが,運転,保守,サービスと故障の全ての条件下で,放出レベルがクラス1の被ばく放出限界(AEL)を超えないことを示した場合,全てのレーザ製品は,この規格の更なる要求事項から除外することができる。そのようなレーザ製品を除外レーザ製品と呼んでもよい。

注記2 この「除外」は,本質的に安全なレーザ製品は箇条6~箇条9の規定を適用する必要がないことを意図している。

あるレーザ機器では,レーザ放射の被ばくに起因する潜在的な悪影響に加えて,電気,化学薬品,高温又は低温のようなその他の関連する危険性をもつことがある。レーザ光線は,目くらみ又はぎらつきのような一時的な視力障害を引き起こす場合がある。そのような作用は,仕事と周囲の照明レベルに依存し,

この規格の適用範囲外である。この規格のクラス分けとその他の要求事項は,目と皮膚に対するレーザ放射の危険性だけを扱うことを意図している。その他の危険性については,この適用範囲には含めない。

この規格は必要最小限の要求事項について規定している。この規格に適合していても製品の安全性が要求されたレベルを達成するために十分であることにはならない。レーザ製品は,他の適用可能な製品安全基準の適用可能な製品性能と試験要求事項を満たすことも要求される場合がある。

注記3 他の規格は,追加的な要求事項を含んでいることがある。例えば,クラス3Bレーザ製品,クラス4レーザ製品は,消費者向け製品としての使用には適さない。

レーザシステムが,安全に関する他のJISとIEC規格に従っている機器の一部を形成している場合[例えば,IEC 60601-2-22(医用機器),JIS C 6950-1(IT機器),JIS C 6065(オーディオ機器とビデオ機器),IEC 62368-1(オーディオビデオ機器とIT機器),IEC 60079規格群(危険な環境に用いる機器),又はIEC 62115(電気玩具)],この規格は,レーザ放射から生じる危険性に対するIEC Guide 104の条項に従って適用される。製品安全規格に適用可能なものがない場合には,JIS C 1010-1を適用してもよい。 眼科用機器については,患者の安全性を保障するために,JIS T 15004-2を考慮することが望ましい。また,そこに提供される限界の原則は,レーザ光線に対して適用することが望ましい【附属書 Cと附属書Dも参照】。

2005年版のJIS C 6802では,発光ダイオード(LED)を適用範囲に含めていた。また,他の関連するJIS(例えば,JIS C 6803など)にLEDを含めている場合がある。しかし,ランプ安全基準の開発に伴い,LEDの放射安全基準は,通常,ランプ安全基準の方がより適切に取り扱うことができるため,適用範囲からは除外している。ただし,この規格の適用範囲からのLEDの除外は,他の規格がレーザに言及している場合はいつでも,その規格にLEDを含めることを妨げるものではない。LED単体又は1個以上のLEDの組込み製品に対する危険グループクラスを決定するためにJIS C 7550を適用してもよい。幾つかの他の製品安全規格は,LED製品に対し,この規格の測定,クラス分け,技術的仕様とラベル付けの要求事項の適用を要求することがある。 従来形のランプ光源として機能するように設計され,4.4に規定する要求事項を満たし,かつ,4.4に規定する基準値内の被ばく放射輝度をもつレーザ製品は,この規格に替えてIEC 62471規格群(ランプとランプシステムの光生物的安全性)の下で評価してもよい。そのような製品であっても,ランプ光源としての光放射自体はクラス分けを考慮する必要がないということを除いて,この規格の適用範囲に含める。

附属書Aに記載しているMPE(最大許容露光量)値は,レーザ放射に対して開発されているため,副次放射には適用しない。しかし,被ばくし得る副次放射の危険性を懸念する場合は,この潜在的な危険性を安全側に評価するために,レーザのMPE値を適用してもよく,JIS C 7550の露光限界値を考慮してもよい。

附属書AのMPE値は,医用又は美容整形的治療の目的で行われるレーザ放射の人体への意図的露光に対しては適用しない。

注記4 情報提供のための附属書A~附属書Gと附属書JAは,一般的な指針の目的で,かつ,多くの代表的事例を説明するために記載するものである。ただし,それらの附属書は,決定的又は網羅的なものとはみなさない。

この規格の目的は,次のとおりである。

- 危険性の評価とユーザの管理手段の決定を支援するため,光学的放射の危険性の程度に応じて,波長範囲180 nm~1 mmのレーザとレーザ製品のクラス分けのシステムを導入する。

- 適切な予防措置がとれるような情報を提供するため,製造業者に対する要求事項を規定する。

- レーザ製品からの被ばく放射に伴って生じる危険性について,ラベルと取扱説明書によって,各人に対する適切な警告を確実なものにする。

- 不必要な被ばく放射を最小限にすることによって傷害の可能性を低減し,保護手段によってレーザ放射の安全管理を改善する。

注記5 この規格の対応国際規格とその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60825-1:2014,Safety of laser products-Part 1: Equipment classification and requirements(IDT)

なお,対応の程度を表す記号「IDT」は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,「一致している」ことを示す。

引用規格 [2]

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 JIS C 1010-1 測定用,制御用と試験室用電気機器の安全性-第1部:一般要求事項

注記 対応国際規格:IEC 61010-1,Safety requirements for electrical equipment for measurement, control, and laboratory use-Part 1: General requirements(MOD)

JIS C 6065 オーディオ,ビデオと類似の電子機器-安全性要求事項

注記 対応国際規格:IEC 60065,Audio, video and similar electronic apparatus-Safety requirements(MOD) JIS C 6803 レーザ製品の安全-光ファイバ通信システムの安全

注記 対応国際規格:IEC 60825-2,Safety of laser products-Part 2: Safety of optical fibre communication systems (OFCS)(IDT) JIS C 6804 レーザ製品の安全-情報伝送のための光無線通信システムの安全

注記 対応国際規格:IEC 60825-12,Safety of laser products-Part 12: Safety of free space optical communication systems used for transmission of information(IDT) JIS C 6950-1 情報技術機器-安全性-第1部:一般要求事項

注記 対応国際規格:IEC 60950 (all parts),Information technology equipment-Safety(MOD) JIS C 7550 ランプとランプシステムの光生物学的安全性

JIS C 9335規格群 家庭用とこれに類する電気機器の安全性

注記 対応国際規格:IEC 60335 (all parts),Household and similar electrical appliances-Safety(MOD) JIS T 0601規格群 医用電気機器 注記 対応国際規格:IEC 60601 (all parts),Medical electrical equipment(MOD) JIS T 15004-2 眼光学機器-基本的要求事項とその試験方法-第2部:光ハザードからの保護

注記 対応国際規格:ISO 15004-2:2007,Ophthalmic instruments-Fundamental requirements and test methods-Part 2: Light hazard protection(IDT)

JIS Z 8113 照明用語 注記 対応国際規格:IEC 60050 (all parts),International Electrotechnical Vocabulary(MOD) ISO/IEC 11553 (all parts),Safety of machinery-Laser processing machines IEC 60601-2-22,Medical electrical equipment-Part 2-22: Particular requirements for basic safety and

essential performance of surgical, cosmetic, therapeutic and diagnostic laser equipment IEC 60825-4,Safety of laser products-Part 4: Laser guards IEC 62115,Electric toys-Safety IEC 62471 (all parts),Photobiological safety of lamps and lamp systems IEC Guide 104,The preparation of safety publications and the use of basic safety publications and group safety publications

用語と定義 [3]

この規格で用いる主な用語と定義は,JIS Z 8113によるほか,次による。

注記 便宜上,定義は英語のアルファベット順に配列されている。JIS Z 8113のIEV 845からの差異は意図的で,かつ,その旨を指摘してある。このような場合,JIS Z 8113のIEV 845の定義に対して,「修正」と付して括弧書きで記載している。

アクセスパネル(access panel) [3.1]

保護きょう体又は囲いの一部であって,取外し又は移動したときに,レーザ放射による被ばくを生じるもの。

被ばく放出(量)(accessible emission) [3.2]

箇条5に規定するように,規定の開口絞り[AELをワット(W)又はジュール(J)の単位で与える場合]を用いて,又は限界開口[AELをワット毎平方メートル(W·m-2)又はジュール毎平方メートル(J·m-2)の単位で与える場合]を用いて,ある位置において決定される放出レベル。 注記1 3.40で定義するように,被ばく放出【運転中に決定する】は人体の被ばく状態が考慮されるところで決定する。被ばく放出はレーザ製品のクラスを決定するために被ばく放出限界【3.3参照】と比較する。この規格の本体内では,用語「放出レベル」を用いる場合は,いつでも,被ばく放出として理解する。

注記2 ビーム直径が測定用の開口絞りより大きい場合は,ワット(W)又はジュール(J)の単位で与える被ばく放出は,レーザ製品から放出される全パワー又は全エネルギーより小さい。ビーム直径が限界開口の直径より小さい場合は,ワット毎平方メートル(W·m-2)又はジュール毎平方メートル(J·m-2)の単位で与える被ばく放出,すなわち,限界開口全体で平均化した放射照度又は放射露光は,実際のビームの放射照度又は放射露光より小さくなる。開口絞り(3.9)と限界開口(3.55)を参照。

被ばく放出限界,AEL(accessible emission limit) [3.3]

対応するクラスで許容される最大の被ばく放出。

注記 この規格において「AELを超えない放出レベル」又は同様の言い回しの場合は,被ばく放出を箇条5に規定した測定基準に従って決定することを意味する。

運用上の管理(administrative control) [3.4]

鍵の管理,人間に対する安全訓練,警告通知,秒読み手法,安全区域管理などの,非技術的な安全手段。

注記 これらは製造業者が指定してもよい【箇条8参照】。

受入れ角,γ(angle of acceptance) [3.5]

検出器が光放射に応答する範囲の平面角。

注記1 この受入れ角は,検出器の前方にある開口又は光学素子で制御できる【図1と図2参照】。受入れ角は,視野と呼ぶこともある。

注記2 国際単位系(以下「SI」という。):ラジアン(rad)。

注記3 受入れ角は,光源の視角又はビーム広がりとは異なるものである。

視角,α(angular subtense) [3.6]

その円弧の長さと半径との比で与えられる,円弧の張る平面角。

注記1 SI:ラジアン(rad)。 注記2 小さい角度では,与えられた距離での線分の視角は,その線分長を距離で除することによって計算される。大きい角度では,弦(直線)と円弧との差異を考慮する必要がある。

アパーレント光源の視角,α(angular subtense of apparent source) [3.7]

空間の1点から見る場合,図1で示すように,アパーレント光源がその点に対して張る角度。

注記1 アパーレント光源の像が,TEM00ビームの拡散反射のように,ガウシアン放射照度分布をもつ場合は,αはビーム直径d63の定義【3.13参照】で決定される。不均一の放射照度分布又は多数の光源については,4.3 d)によって決定する。

注記2 SI:ラジアン(rad)。

注記3 アパーレント光源の位置と視角は,ビーム内の観察位置に依存する【3.10参照】。

注記4 アパーレント光源の視角は,この規格において波長範囲400 nm~1,400 nmの網膜障害領域だけに適用できる。

注記5 光源の視角は,ビーム広がりとは異なるものである。

開口(aperture) [3.8]

レーザ製品の保護きょう体に設けた開口部。ここを通してレーザ放射が放出され,人体への被ばくが生じる。

注記 限界開口(3.55)も参照する。

開口絞り(aperture stop) [3.9]

放射が測定される特定の領域を規定するための円形開口。

注記 限界開口(3.55)も参照する。

アパーレント光源(apparent source) [3.10]

網膜障害に関しての所定の評価位置に対して,最も小さな網膜像を結ぶ実物体又は仮想的物体(人間の目の調節可能範囲を考慮する。)。

注記1 目の調節可能範囲は,100 mmから無限遠まで可変であると仮定される。ビーム内の所定の観察位置に対するアパーレント光源の位置は,目が調整して最も危険な網膜放射照度条件を生成する場所である。

注記2 この定義は,所定の評価位置に対して,波長範囲400 nm~1,400 nmのレーザ放射の見かけの起点の位置を決定するために用いる。発散角がゼロとみなせる限界において,すなわち,理想的な平行ビームでは,アパーレント光源の位置は,無限遠になる。

注記3 網膜上でガウシアン放射照度分布を示す分散光源の円形像に対しては,アパーレント光源の視角を決定するためにd63の定義を用いることができる。

ビーム(beam) [3.11]

方向,広がり,直径又は走査仕様によって特性付けられるレーザ放射。

注記 非鏡面反射からの散乱放射は,ビームとはみなさない。

ビーム減衰器(beam attenuator) [3.12]

レーザ放射を規定のレベル若しくはそれ以下に,又は規定の割合だけ減衰させるデバイス。

ビーム直径,ビーム幅,du(beam diameter,beam width) [3.13]

全レーザパワー(又はエネルギー)のu %を含んだ最小円の直径。 注記1 この規格では,d63を用いる。

注記2 ビームウエストは,ビーム直径が最小となるビームの中での位置である。

注記3 SI:メートル(m)。

注記4 ビーム直径のこの定義は,アパーレント光源の視角αの決定には,定義が異なるので一般に使用しないのが望ましい。しかし,アパーレント光源の像がガウシアン放射照度分布をもつ場合は,アパーレント光源の視角の決定のためにd63を適用することができる。アパーレント光源の像が非ガウシアン放射照度分布をもつ場合については,4.3 d)に規定した方法が使用される。

注記5 ガウシアンビームの場合,d63は放射照度(放射露光)が,その中心ピーク値の1/eになる直径に対応する。

注記6 2次モーメント直径【ISO 11146-1の3.8参照】は,例えば,不安定共振器によって生成される,高い放射照度ピークを中心部にもち,かつ,低レベルの背景を伴う遠視野ビームのプロファイルに用いるのは適当ではない。開口を通過するパワーは,2次モーメント直径を用いて,ガウスビーム分布の仮定を用いてパワーを計算すると,かなり低めに評価される。

レーザ 関連 主なJIS規格 一覧

規格番号 規格名称 規格番号 規格名称
JIS B 0090-17光学素子とシステム用の製図手法-第17部:レーザ放射による損傷しきい値JIS B 7912-6測量機器の現場試験手順-第6部:回転レーザ
JIS C 5940光伝送用半導体レーザ通則JIS C 5941光伝送用半導体レーザ測定方法
JIS C 5942再生用と記録用半導体レーザ通則JIS C 5943再生用と記録用半導体レーザ測定方法
JIS C 5944光伝送用半導体レーザモジュール通則JIS C 5945光伝送用半導体レーザモジュール測定方法
JIS C 5946光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール通則JIS C 5947光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール測定方法
JIS C 5948光伝送用半導体レーザモジュールの信頼性評価方法JIS C 5952-11光伝送用能動部品-パッケージとインタフェース標準-第11部:14ピン変調器集積形半導体レーザ送信モジュール
JIS C 5952-12光伝送用能動部品-パッケージとインタフェース標準-第12部:同軸形高周波コネクタ付半導体レーザ送信モジュールJIS C 5953-3光伝送用能動部品-性能標準-第3部:40 Gbit/s帯変調器集積形半導体レーザモジュール
JIS C 5953-5光伝送用能動部品-性能標準-第5部:半導体レーザ駆動回路とクロックデータ再生回路内蔵ATM-PON用光トランシーバJIS C 61280-2-10光ファイバ通信サブシステム試験方法-第2-10部:レーザ送信器の時間分解チャープとアルファファクタ測定
JIS C 6180レーザ出力測定方法JIS C 6181レーザ放射パワーとエネルギー測定用検出器,測定器と測定装置
JIS C 6182レーザビーム用光パワーメータ試験方法JIS C 6802レーザ製品の安全基準
JIS C 6803レーザ製品の安全-光ファイバ通信システムの安全JIS C 6804レーザ製品の安全-情報伝送のための光無線通信システムの安全
JIS H 7801金属のレーザフラッシュ法による熱拡散率の測定方法JIS K 5600-9-3塗料一般試験方法-第9部:粉体塗料-第3節:レーザ回折による粒度分布の測定方法
JIS R 1629ファインセラミックス原料のレーザ回折・散乱法による粒子径分布測定方法JIS R 1667長繊維強化セラミックス複合材料のレーザフラッシュ法による熱拡散率測定方法
JIS R 3251低膨張ガラスのレーザ干渉法による線膨張率の測定方法JIS R 3252ガラスのレーザ干渉法による均質度の測定方法
JIS R 7240放熱用グラファイトシートのレーザスポット周期加熱放射測温法による熱拡散率の求め方JIS T 1204レーザ光凝固装置
JIS T 6128歯科用金属材料のレーザ溶接JIS T 8143レーザ保護フィルタとレーザ保護めがね
JIS Z 2358レーザー照射処理面の除せい(錆)度測定方法JIS Z 3001-5溶接用語-第5部:レーザ溶接
JIS Z 6018文書管理アプリケーション-電子データのアーカイビング-コンピュータアウトプットマイクロフォーム(COM)/コンピュータアウトプットレーザディスク(COLD)JIS Z 8825粒子径解析-レーザ回折・散乱法

光増幅器、光ファイバ、光ファイバ通信サブシステム、光測定器、レーザ安全

機器・装置・システム、光学機器、家庭用機器

日本産業規格の一覧

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