JIS C 60068-2-67 最新規格 環境試験方法-電気・電子-基本的に構成部品を対象とした高温高湿,定常状態の促進試験|JIS規格一覧|更新改正情報|制定

JIS C 60068-2-67の規格 環境試験方法-電気・電子-基本的に構成部品を対象とした高温高湿,定常状態の促進試験の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JISC60068-2-67:2001の規格は,小形電子部品,ハーメチックシールされていない部品を対象にして,高温高湿が特性劣化に与える影響を加速して評価する標準的な試験方法を規定。

環境試験方法-電気・電子-基本的に構成部品を対象とした高温高湿,定常状態の促進試験 規格 一覧表

JIS C 60068-2-67

環境試験方法-電気・電子-基本的に構成部品を対象とした高温高湿,定常状態の促進試験の一覧

最新 JISC60068-2-67:2001の更新 情報詳細

JIS C 60068-2-67:2001の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS C 60068-2-67 JIS改正 最新・更新日
規格名称 環境試験方法-電気・電子-基本的に構成部品を対象とした高温高湿,定常状態の促進試験
英語訳 Environmental testing – Part 2: Tests – Test Cy: Damp heat, steady state, accelerated test primarily intended for components
対応国際規格 ISO IEC 60068-2-67:1995(IDT)
主務大臣 経済産業 制定 年月日 2001/11/20
略語・記号 No JIS C 60068-2-67:2001
ICS 19.040,31.020JISハンドブック 電子I:2018
改訂 履歴 2001-11-20(制定),2004-03-20被移行,2008-03-20(確認),2012-10-22(確認),2017-10-20(確認)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

日本産業規格の一覧

日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照

光増幅器、光ファイバ、光ファイバ通信サブシステム、光測定器、レーザ安全

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