JISC54まとめ 9ページ目

JISC5402-2-2:2005の規格は,電子機器用コネクタの一対の結合したコンタクト間,又はコンタクトと測定ゲージ間との接触抵抗を測定するための試験方法について規定。

JISC5402-16-2:2012の規格は,規定の寸法より大きなおすコンタクト,又は類似の形状の物体を,めすコンタクトに挿入することを防止するために,めすコンタクトに設けた設計機構の有効性を評価するための試験方法について規定。

JISC5402-2-3:2005の規格は,規定した動的条件下における電子機器用コネクタの接触抵抗の変動を決定するための試験方法について規定。類似の部品に用いてもよい。

JISC5402-5-1:2005の規格は,規定する温度上昇値を超えることなく,室温で,規定電流を流せる電子機器用コネクタの能力を評価するための試験方法について規定。

JISC5402-6-4:2005の規格は,規定する厳しさの正弦波振動に耐える電子機器用コネクタの能力を評価するための試験方法について規定。類似の部品にも用いてもよい。

JISC5402-11-13:2005の規格は,ラッピング接続する電子機器用コネクタのラッピング電線とポストとの間に形成されたガスタイト部分を確認するための試験方法について規定。類似の部品に用いてもよい。

JISC5402-4-3:2005の規格は,絶縁体を損傷することなしに圧着作業に耐える絶縁被覆付クリンプバレルの耐電圧を評価するための試験方法について規定。類似の部品に用いてもよい。

JISC5402-11-7:2006の規格は,電子機器用コネクタの電気的な接触又は接続で,非常に低濃度のガスに汚染された一定の雰囲気での影響を評価するための,標準の試験方法について規定。

JISC5402-20-2:2005の規格は,電子機器用コネクタにおいて,規定の炎及び振動の環境の下で最初の6分間,規定する電気的性能を満たし,かつ,試験中,コネクタを取り付けた耐火隔壁のなかへ炎が侵入するのを防いだ状態で,コネクタが20分間絶える能力を評価するための試験方法について規定。類似の部品に用いてもよい。

JISC5402-11-3:2005の規格は,高い相対湿度条件下において,規定の方法により保存及び/又は機能する電子機器用コネクタの能力を評価するための試験方法について規定。類似の部品に用いてもよい。