更新日 : 2019年12月28日DIY的ライフJISC5

JIS C 5402-2-3 最新規格電子機器用コネクタ―試験及び測定－第２－３部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｃ：接触抵抗の変動｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定

JIS C 5402-2-3の規格電子機器用コネクタ―試験及び測定－第２－３部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｃ：接触抵抗の変動の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！

JISC5402-2-3:2005の規格は,規定した動的条件下における電子機器用コネクタの接触抵抗の変動を決定するための試験方法について規定。類似の部品に用いてもよい。

ページコンテンツ

電子機器用コネクタ―試験及び測定－第２－３部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｃ：接触抵抗の変動規格一覧表

電子機器用コネクタ―試験及び測定－第２－３部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｃ：接触抵抗の変動の一覧

JIS C 5402-2-3：2005の最新の詳細や改正，更新日の情報！

JIS 改正最新情報

JIS規格番号	JIS C 5402-2-3	JIS改正最新・更新日
規格名称	電子機器用コネクタ―試験及び測定－第２－３部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｃ：接触抵抗の変動
英語訳	Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 2-3: Electrical continuity and contact resistance tests – Test 2c: Contact resistance variation
対応国際規格 ISO	IEC 60512-2-3:2002(IDT)
主務大臣	経済産業	制定年月日	2005/3/20
略語・記号		No	JIS C 5402-2-3:2005
ICS	31.220.10	JISハンドブック	電子Ⅲ-2:2018
改訂履歴	2005-03-20(制定)，2009-10-01(確認)，2014-10-20(確認)，2019-10-21(確認)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

規格番号	規格名称
JIS C 5402-2-1	電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２－１部：導通及び接触抵抗試験－試験２ａ：接触抵抗－ミリボルトレベル法