JIS C 5402-16-2 最新規格 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-2部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16b:リストリクテッドエントリ|JIS規格一覧|更新改正情報|制定

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JISC5402-16-2:2012の規格は,規定の寸法より大きなおすコンタクト,又は類似の形状の物体を,めすコンタクトに挿入することを防止するために,めすコンタクトに設けた設計機構の有効性を評価するための試験方法について規定。

電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-2部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16b:リストリクテッドエントリ 規格 一覧表

JIS C 5402-16-2

電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-2部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16b:リストリクテッドエントリの一覧

最新 JISC5402-16-2:2012の更新 情報詳細

JIS C 5402-16-2:2012の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS C 5402-16-2 JIS改正 最新・更新日
規格名称 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-2部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16b:リストリクテッドエントリ
英語訳 Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 16-2: Mechanical tests on contacts and terminations – Test 16b: Restricted entry
対応国際規格 ISO IEC 60512-16-2:2008(IDT)
主務大臣 経済産業 制定 年月日 2012/6/20
略語・記号 No JIS C 5402-16-2:2012
ICS 31.220.10JISハンドブック 電子Ⅲ-2:2018
改訂 履歴 2012-06-20(制定),2017-10-20(確認)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS C 5402-16-2:2012の関連規格と引用規格一覧

日本産業規格の一覧

日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照

光受動部品及び光コネクタ試験方法、光受動部品、光コネクタ、光能動部品、光複合部品

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