JISC54まとめ 10ページ目

JISC5402-23-4:2006の規格は,コネクタから生じる反射波を時間領域で測定し,伝送線路でのコネクタの性能を評価するための二通りの試験方法について規定。

JISC5402-12-1:2016の規格は,プリント配線板用コネクタ又は類似のはんだ付け技術を用いている他のコネクタのターミネーションに関するはんだ付け性を評価するための標準の試験方法について規定。

JISC5402-11-10:2005の規格は,規定する低温条件下で,規定の方法によって保存及び/又は機能する電子機器用コネクタの能力を評価するための試験方法について規定。類似の部品に用いてもよい。

JISC5402-16-7:2012の規格は,圧着作業によるコンタクトの変形(損傷)に耐える有効性を評価するための試験方法について規定。

JISC5402-1-4:2002の規格は,電子機器用コネクタを試験するために用いる。試験の目的は,結合する相手コネクタの先端が当該コネクタのコンタクトに偶然接触することを防止する能力を検証するために,標準の試験方法を規定。

JISC5402-4-1:2005の規格は,電子機器用コネクタの規定の試験電圧に耐える能力を評価するための試験方法について規定。

JISC5402-11-11:2005の規格は,規定する減圧条件下(例:高高度)で,規定の方法によって保存及び/又は機能する電子機器用コネクタの能力を評価するための試験方法について規定。類似の部品に用いてもよい。

JISC5402-1:2002の規格は,基本規格として,電子機器用コネクタを試験するための,個別規格に規定される基本試験方法及び手順を含んでいる。基本試験方法及び手順は,個別規格に規定がある場合には,類似の部品にも使用してよい。

JISC5402-9-1:2016の規格は,電気的負荷のない通常の挿入及び引抜き動作でのコネクタの機械的耐久性を,評価するための標準の試験方法について規定。

JISC5402-11-5:2005の規格は,かびの繁殖を受けた電子機器用コネクタの機能について,かびの成長の影響及びその範囲を評価するための試験方法について規定。類似の部品に用いてもよい。