JIS C 5402-1-4 最新規格 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－４部：一般検査－試験１ｄ：コンタクトの保護効果（スクーププルーフ）｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 5402-1-4の規格 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－４部：一般検査－試験１ｄ：コンタクトの保護効果（スクーププルーフ）の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC5402-1-4:2002の規格は,電子機器用コネクタを試験するために用いる。試験の目的は,結合する相手コネクタの先端が当該コネクタのコンタクトに偶然接触することを防止する能力を検証するために,標準の試験方法を規定。
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電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－４部：一般検査－試験１ｄ：コンタクトの保護効果（スクーププルーフ） 規格 一覧表
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－４部：一般検査－試験１ｄ：コンタクトの保護効果（スクーププルーフ）の一覧
最新 JISC5402-1-4:2002の更新 情報詳細
JIS C 5402-1-4：2002の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 5402-1-4 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－４部：一般検査－試験１ｄ：コンタクトの保護効果（スクーププルーフ） | ||
| 英語訳 | Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 1-4: General examination – Test 1d: Contact protection effectiveness (scoop-proof) | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 60512-1-4:1997(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2002/3/20 |
| 略語・記号 | No | JIS C 5402-1-4:2002 | |
| ICS | 31.220.10 | JISハンドブック | 電子Ⅲ-2:2018 |
| 改訂 履歴 | 2002-03-20(制定)，2007-03-20(確認)，2008-07-20(確認)，2012-10-22(確認)，2017-10-20(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 5402-1-4:2002の引用国際規格一覧
- IEC 60512-4-1
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
