JIS Z 8792 最新規格 ホログラムの記録特性測定方法｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS Z 8792の規格 ホログラムの記録特性測定方法の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISZ8792:2011の規格は,ホログラムの記録にかかわる光学的な記録特性(露光特性曲線,半値露光量,R値及び屈折率変調量)の測定方法について規定。
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ホログラムの記録特性測定方法 規格 一覧表
ホログラムの記録特性測定方法の一覧
最新 JISZ8792:2011の更新 情報詳細
JIS Z 8792：2011の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS Z 8792 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | ホログラムの記録特性測定方法 | ||
| 英語訳 | Methods for measurement of hologram recording characteristics | ||
| 対応国際規格 ISO | |||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2011/1/20 |
| 略語・記号 | No | JIS Z 8792:2011 | |
| ICS | 17.180.20 | JISハンドブック | |
| 改訂 履歴 | 2011-01-20(制定)，2015-10-20(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS Z 8792:2011の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS Z 8120 | 光学用語 |
| JIS Z 8791 | ホログラムの回折効率及び関連する光学特性の測定方法 |
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
