JIS C 5943 最新規格 再生用及び記録用半導体レーザ測定方法|JIS規格一覧|更新改正情報|制定

JIS C 5943の規格 再生用及び記録用半導体レーザ測定方法の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JISC5943:2010の規格は,光源として使用する再生用及び記録用半導体レーザ(電子回路内蔵形及び光学素子内蔵形を除く。)の電気的及び光学的特性の測定方法について規定。

再生用及び記録用半導体レーザ測定方法 規格 一覧表

JIS C 5943

再生用及び記録用半導体レーザ測定方法の一覧

最新 JISC5943:2010の更新 情報詳細

JIS C 5943:2010の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS C 5943 JIS改正 最新・更新日 2010/5/20
規格名称 再生用及び記録用半導体レーザ測定方法
英語訳 Measuring methods of laser diodes used for recording and playback
対応国際規格 ISO IEC 60747-5-4:2006(MOD)
主務大臣 経済産業 制定 年月日 1990/1/1
略語・記号 No JIS C 5943:2010
ICS 31.260,33.180.01JISハンドブック 電子II-1:2018
改訂 履歴 1990-01-01(制定),1997-08-20改正,2004-03-20(確認),2008-10-01(確認),2010-05-20改正,2015-10-20(確認)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS C 5943:2010の関連規格と引用規格一覧

日本産業規格の一覧

日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照

基本、コンデンサ、抵抗器、変成器・インダクタ

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