JIS C 5942 最新規格 再生用及び記録用半導体レーザ通則|JIS規格一覧|更新改正情報|制定

JIS C 5942の規格 再生用及び記録用半導体レーザ通則の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JISC5942:2010の規格は,光源として使用する再生用及び記録用半導体レーザ(電子回路内蔵形及び光学素子内蔵形を除く。)の用語,記号,分類,性能などの一般的共通事項について規定。

再生用及び記録用半導体レーザ通則 規格 一覧表

JIS C 5942

再生用及び記録用半導体レーザ通則の一覧

最新 JISC5942:2010の更新 情報詳細

JIS C 5942:2010の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS C 5942 JIS改正 最新・更新日 2010/5/20
規格名称 再生用及び記録用半導体レーザ通則
英語訳 General rules of laser diodes used for recording and playback
対応国際規格 ISO IEC 60747-5-2:1997(MOD),IEC 60747-5-4:2006(MOD)
主務大臣 経済産業 制定 年月日 1990/1/1
略語・記号 No JIS C 5942:2010
ICS 31.260,33.180.01JISハンドブック 電子II-1:2018
改訂 履歴 1990-01-01(制定),1997-08-20改正,2004-03-20(確認),2008-10-01(確認),2010-05-20改正,2015-10-20(確認)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS C 5942:2010の関連規格と引用規格一覧

規格番号規格名称
JIS C 5943再生用及び記録用半導体レーザ測定方法
JIS C 60068-2-1環境試験方法-電気・電子-第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
JIS C 60068-2-11環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
JIS C 60068-2-13環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
JIS C 60068-2-14環境試験方法-電気・電子-第2-14部:温度変化試験方法(試験記号:N)
JIS C 60068-2-17環境試験方法-電気・電子-封止(気密性)試験方法
JIS C 60068-2-18環境試験方法-電気・電子-第2-18部:耐水性試験及び指針
JIS C 60068-2-11環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
JIS C 60068-2-17環境試験方法-電気・電子-封止(気密性)試験方法
JIS C 60068-2-2環境試験方法-電気・電子-第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
JIS C 60068-2-20環境試験方法-電気・電子-第2-20部:試験-試験T-端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
JIS C 60068-2-21環境試験方法-電気・電子-第2-21部:試験-試験U:端子強度試験方法
JIS C 60068-2-27環境試験方法-電気・電子-第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
JIS C 60068-2-20環境試験方法-電気・電子-第2-20部:試験-試験T-端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
JIS C 60068-2-21環境試験方法-電気・電子-第2-21部:試験-試験U:端子強度試験方法
JIS C 60068-2-27環境試験方法-電気・電子-第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
JIS C 60068-2-38環境試験方法-電気・電子-第2-38部:温湿度組合せ(サイクル)試験方法(試験記号:Z/AD)
JIS C 60068-2-6環境試験方法-電気・電子-第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
JIS C 60068-2-60環境試験方法-電気・電子-第2-60部:混合ガス流腐食試験(試験記号:Ke)
JIS C 60068-2-61環境試験方法-電気・電子-一連耐候性試験
JIS C 60068-2-64環境試験方法-電気・電子-第2-64部:広帯域ランダム振動試験方法及び指針(試験記号:Fh)
JIS C 60068-2-65環境試験方法-電気・電子-第2-65部:音響振動(試験記号:Fg)
JIS C 60068-2-66環境試験方法-電気・電子-高温高湿,定常(不飽和加圧水蒸気)
JIS C 60068-2-67環境試験方法-電気・電子-基本的に構成部品を対象とした高温高湿,定常状態の促進試験
JIS C 60068-2-68環境試験方法-電気・電子-砂じん(塵)試験
JIS C 60068-2-69環境試験方法-電気・電子-第2-69部:試験-試験Te/Tc:電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法(平衡法)
JIS C 60068-2-7環境試験方法-電気・電子-加速度(定常)試験方法
JIS C 60068-2-70環境試験方法-電気・電子-第2-70部:指及び手の擦れによる印字の摩滅試験
JIS C 60068-2-75環境試験方法-電気・電子-第2-75部:ハンマ試験(試験記号:Eh)
JIS C 60068-2-77環境試験方法-電気・電子-表面実装部品(SMD)の本体強度及び耐衝撃性試験方法
JIS C 60068-2-78環境試験方法-電気・電子-第2-78部:高温高湿(定常)試験方法(試験記号:Cab)
JIS C 60068-2-78環境試験方法-電気・電子-第2-78部:高温高湿(定常)試験方法(試験記号:Cab)
JIS C 6802レーザ製品の安全基準

JIS C 5942:2010の引用国際規格一覧

  • IEC 60749-26

日本産業規格の一覧

日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照

基本、コンデンサ、抵抗器、変成器・インダクタ

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