JIS C 7031 最新規格 小信号用半導体ダイオード測定方法|JIS規格一覧|更新改正情報|制定

JIS C 7031の規格 小信号用半導体ダイオード測定方法の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JISC7031:1993の規格は,電子装置に使用する検波,スイッチング,混合などに用いられる小信号用半導体ダイオードの電気的測定方法について規定。

小信号用半導体ダイオード測定方法 規格 一覧表

JIS C 7031

小信号用半導体ダイオード測定方法の一覧

最新 JISC7031:1993の更新 情報詳細

JIS C 7031:1993の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS C 7031 JIS改正 最新・更新日 1993/2/1
規格名称 小信号用半導体ダイオード測定方法
英語訳 Measuring methods for small signal diodes
対応国際規格 ISO IEC 60747-3:1985(MOD)
主務大臣 経済産業 制定 年月日 1963/9/1
略語・記号 No JIS C 7031:1993
ICS 31.080.10JISハンドブック 電子Ⅲ-2:2018
改訂 履歴 1963-09-01(制定),1966-09-01(確認),1969-12-01(確認),1972-11-01(確認),1976-03-01改正,1979-03-01(確認),1984-09-01(確認),1989-10-01(確認),1993-02-01改正,1999-06-20(確認),2004-03-20(確認),2009-10-01(確認),2014-10-20(確認),2019-10-21(確認)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS C 7031:1993の関連規格と引用規格一覧

日本産業規格の一覧

日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照

光受動部品及び光コネクタ試験方法、光受動部品、光コネクタ、光能動部品、光複合部品

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