JIS C 5402-16-7 最新規格 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－７部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｇ：圧着後のコンタクトの変形測定｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 5402-16-7の規格 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－７部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｇ：圧着後のコンタクトの変形測定の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC5402-16-7:2012の規格は,圧着作業によるコンタクトの変形(損傷)に耐える有効性を評価するための試験方法について規定。
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電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－７部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｇ：圧着後のコンタクトの変形測定 規格 一覧表
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－７部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｇ：圧着後のコンタクトの変形測定の一覧
最新 JISC5402-16-7:2012の更新 情報詳細
JIS C 5402-16-7：2012の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 5402-16-7 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－７部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｇ：圧着後のコンタクトの変形測定 | ||
| 英語訳 | Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 16-7: Mechanical tests on contacts and terminations – Test 16g: Measurement of contact deformation after crimping | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 60512-16-7:2008(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2012/6/20 |
| 略語・記号 | No | JIS C 5402-16-7:2012 | |
| ICS | 31.220.10 | JISハンドブック | 電子Ⅲ-2:2018 |
| 改訂 履歴 | 2012-06-20(制定)，2017-10-20(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 5402-16-7:2012の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS C 5402-1-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１部：一般試験－試験１ａ：外観 |
| JIS C 5402-1-100 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１００部：一般－試験方法規格一覧 |
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
