JIS C 5402-11-10 最新規格 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１０部：耐候性試験－試験１１ｊ：低温｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 5402-11-10の規格 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１０部：耐候性試験－試験１１ｊ：低温の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC5402-11-10:2005の規格は,規定する低温条件下で,規定の方法によって保存及び/又は機能する電子機器用コネクタの能力を評価するための試験方法について規定。類似の部品に用いてもよい。
ページコンテンツ
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１０部：耐候性試験－試験１１ｊ：低温 規格 一覧表
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１０部：耐候性試験－試験１１ｊ：低温の一覧
最新 JISC5402-11-10:2005の更新 情報詳細
JIS C 5402-11-10：2005の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 5402-11-10 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１０部：耐候性試験－試験１１ｊ：低温 | ||
| 英語訳 | Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 11-10: Climatic tests – Test 11j: Cold | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 60512-11-10:2002(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2005/3/20 |
| 略語・記号 | No | JIS C 5402-11-10:2005 | |
| ICS | 31.220.10 | JISハンドブック | 電子Ⅲ-2:2018 |
| 改訂 履歴 | 2005-03-20(制定)，2009-10-01(確認)，2014-10-20(確認)，2019-10-21(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 5402-11-10:2005の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS C 5402-1-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１部：一般試験－試験１ａ：外観 |
| JIS C 5402-1-100 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１００部：一般－試験方法規格一覧 |
| JIS C 5402-2-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２－１部：導通及び接触抵抗試験－試験２ａ：接触抵抗－ミリボルトレベル法 |
| JIS C 60068-2-1 | 環境試験方法－電気・電子－第２－１部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：Ａ） |
| JIS C 60068-2-11 | 環境試験方法（電気・電子）塩水噴霧試験方法 |
| JIS C 60068-2-13 | 環境試験方法（電気・電子）減圧試験方法 |
| JIS C 60068-2-14 | 環境試験方法－電気・電子－第２－１４部：温度変化試験方法（試験記号：Ｎ） |
| JIS C 60068-2-17 | 環境試験方法－電気・電子－封止（気密性）試験方法 |
| JIS C 60068-2-18 | 環境試験方法－電気・電子－第２－１８部：耐水性試験及び指針 |
JIS C 5402-11-10:2005の引用国際規格一覧
- IEC 60512-5:1992
- IEC 60512-7:1993
- IEC 60512-8:1993
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
