JIS C 5402-11-5 最新規格 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－５部：耐候性試験－試験１１ｅ：かびの成長｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 5402-11-5の規格 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－５部：耐候性試験－試験１１ｅ：かびの成長の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC5402-11-5:2005の規格は,かびの繁殖を受けた電子機器用コネクタの機能について,かびの成長の影響及びその範囲を評価するための試験方法について規定。類似の部品に用いてもよい。
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電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－５部：耐候性試験－試験１１ｅ：かびの成長 規格 一覧表
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－５部：耐候性試験－試験１１ｅ：かびの成長の一覧
最新 JISC5402-11-5:2005の更新 情報詳細
JIS C 5402-11-5：2005の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 5402-11-5 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－５部：耐候性試験－試験１１ｅ：かびの成長 | ||
| 英語訳 | Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 11-5: Climatic tests – Test 11e: Mould growth | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 60512-11-5:2002(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2005/3/20 |
| 略語・記号 | No | JIS C 5402-11-5:2005 | |
| ICS | 31.220.10 | JISハンドブック | 電子Ⅲ-2:2018 |
| 改訂 履歴 | 2005-03-20(制定)，2009-10-01(確認)，2014-10-20(確認)，2019-10-21(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 5402-11-5:2005の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS C 5402-1-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１部：一般試験－試験１ａ：外観 |
| JIS C 5402-1-100 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１００部：一般－試験方法規格一覧 |
| JIS C 5402-3-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第３－１部：絶縁試験－試験３ａ：絶縁抵抗 |
JIS C 5402-11-5:2005の引用国際規格一覧
- IEC 60068-2-10:1988
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
