JIS C 5630-18 最新規格 マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第１８部：薄膜曲げ試験方法｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 5630-18の規格 マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第１８部：薄膜曲げ試験方法の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC5630-18:2014の規格は,長さ及び幅が1mm以下で,かつ,厚さが0.1μm~10μmの薄膜材料の曲げ試験方法について規定。
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マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第１８部：薄膜曲げ試験方法 規格 一覧表
マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第１８部：薄膜曲げ試験方法の一覧
最新 JISC5630-18:2014の更新 情報詳細
JIS C 5630-18：2014の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 5630-18 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第１８部：薄膜曲げ試験方法 | ||
| 英語訳 | Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 18: Bend testing methods of thin film materials | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 62047-18:2013(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2014/12/22 |
| 略語・記号 | No | JIS C 5630-18:2014 | |
| ICS | 31.080.99 | JISハンドブック | |
| 改訂 履歴 | 2014-12-22(制定)，2019-10-21(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 5630-18:2014の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS C 5630-6 | マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第６部：薄膜材料の軸荷重疲労試験方法 |
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
