JIS C 61280-2-2 最新規格 光ファイバ通信サブシステム試験方法－第２－２部：光アイパターン，光波形及び消光比測定｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 61280-2-2の規格 光ファイバ通信サブシステム試験方法－第２－２部：光アイパターン，光波形及び消光比測定の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC61280-2-2:2017の規格は,あらかじめ定められた波形マスクの整合性を確認するための試験手順,並びに光アイパターン,光波形のパラメータ[例えば,上昇時間(慣用的には“立ち上がり時間”ともいう。),下降時間(慣用的には“立ち下がり時間”ともいう。),変調振幅]及び消光比を測定するための試験手順について規定。
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光ファイバ通信サブシステム試験方法－第２－２部：光アイパターン，光波形及び消光比測定 規格 一覧表
光ファイバ通信サブシステム試験方法－第２－２部：光アイパターン，光波形及び消光比測定の一覧
最新 JISC61280-2-2:2017の更新 情報詳細
JIS C 61280-2-2：2017の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 61280-2-2 | JIS改正 最新・更新日 | 2017/3/21 |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 光ファイバ通信サブシステム試験方法－第２－２部：光アイパターン，光波形及び消光比測定 | ||
| 英語訳 | Fiber optic communication subsystem test procedures – Part 2-2: Optical eye pattern, waveform and extinction ratio measurement | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 61280-2-2:2012(IDT),IEC 61280-2-2:2012/CORRIGENDUM 1:2015(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2010/5/20 |
| 略語・記号 | No | JIS C 61280-2-2:2017 | |
| ICS | 33.180.01 | JISハンドブック | 電子II-2:2018 |
| 改訂 履歴 | 2010-05-20(制定)，2015-10-20(確認)，2017-03-21改正 | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 61280-2-2:2017の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS C 61280-2-3 | 光ファイバ通信サブシステム試験方法－第２－３部：ジッタ及びワンダ測定 |
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
