JIS Z 0202 包装貨物-落下試験方法|日本産業規格|最新情報 更新 改正制定

JIS Z 0202 包装貨物-落下試験方法の日本産業規格 JISZ0202の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JIS Z0202:2017の規格は,輸送過程で落下衝撃を受ける包装貨物の落下試験方法について規定。垂直自由落下試験方法以外に片支持りょう落下試験方法及び衝撃試験装置による等価落下試験方法を含む。

包装貨物-落下試験方法 規格 一覧表

JIS Z 0202

包装貨物-落下試験方法の一覧

最新 JIS Z0202 規格の詳細 更新日 情報

JIS Z 0202:2017の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS Z0202 JIS改正 最新・更新日 2017年09月20日
規格名称 包装貨物-落下試験方法
英語訳 Method of drop test for packaged freights
対応国際規格 ISO ISO 2248:1985,Packaging-Complete, filled transport packages-Vertical impact test by dropping(MOD)
主務大臣 経済産業 制定 年月日 1950年02月10日
略語・記号 No JIS Z0202:2017
ICS 55.180.40JISハンドブック 包装:2018
改訂 履歴 1950-02-10 (制定),1953-02-19 (確認),1956-02-18 (確認),1959-01-19 (確認),1961-12-16 (確認),1962-08-01 (改正),1966-04-01 (確認),1970-05-01 (確認),1973-09-01 (確認),1976-03-01 (改正),1979-03-01 (確認),1983-12-01 (確認),1987-03-01 (改正),1994-03-01 (改正),2000-08-20 (確認),2005-12-20 (確認),2010-10-01 (確認),2015-10-20 (確認),2017-09-20 (改正)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS Z0202:2017 目次

  • 序文
  • 1 適用範囲
  • 2 引用規格
  • 3 用語と定義
  • 4 前処置
  • 5 供試品
  • 6 装置
  •  6.1 落下試験装置と落下面
  •  6.2 衝撃試験装置と計測装置
  • 7 試験方法
  • 8 試験報告
  • 附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表

適用範囲 [1]

この規格は,輸送過程で落下衝撃を受ける包装貨物の落下試験方法について規定する。

この規格には,垂直自由落下試験方法以外に片支持りょう落下試験方法と衝撃試験装置による等価落下試験方法を含む。

なお,クラフト紙袋の落下試験方法については,JIS Z 0217による。

注記 この規格の対応国際規格とその対応の程度を表す記号を,次に示す。

ISO 2248:1985,Packaging — Complete, filled transport packages — Vertical impact test by dropping

なお,対応の程度を表す記号「MOD」は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,「修正している」ことを示す。

引用規格 [2]

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。

JIS B 0153機械振動・衝撃用語

JIS Z 0104段ボール用語

JIS Z 0108包装-用語

JIS Z 0111物流用語

JIS Z 0201 試験容器の記号表示方法

注記 対応国際規格:ISO 2206,Packaging-Complete, filled transport packages-Identification of parts when testing(MOD)

JIS Z 0203 包装貨物-試験の前処置

注記 対応国際規格:ISO 2233,Packaging-Complete, filled transport packages-Conditioning for testing(MOD)

ISO 8568,Mechanical shock-Testing machines-Characteristics and performance

用語と定義 [3]

この規格で用いる主な用語と定義は,JIS B 0153JIS Z 0104JIS Z 0108JIS Z 0111 によるほか,次による。

落下高さ [3.1]

垂直自由落下試験における,包装貨物の最低点と落下面の最短距離【図1参照】。片支持りょう落下試験においては,あらかじめ指定された包装貨物のりょうと落下面の最短距離【図2参照】。

等価落下試験 [3.2]

衝撃試験装置を用いて,垂直自由落下試験と等価な衝撃を包装貨物に発生させる試験。緩衝包装を施した包装貨物に適用する。垂直自由落下試験に比べ安定した落下姿勢を保つことができる。

等価自由落下高さ [3.3]

衝撃試験装置によって加えた衝撃を,垂直自由落下試験における落下高さに換算した値。

速度変化 [3.4]

衝撃台の衝突速度と反発速度の絶対値の和。衝撃パルスの面積に相当。

図1-落下試験装置の例

図2-片支持りょう落下試験の例

前処置 [4]

供試品は試験に先立ち,JIS Z 0203の規定によって前処置を行う。この場合,前処置の温湿度条件は,試験の目的によって定める。

さらに,必要に応じて浸水,散水などを施す。ただし,この条件以外の特別な試験条件を必要とする場合には,受渡当事者間の協定によって実施することができるが,その旨を試験報告書に記載する。

供試品 [5]

供試品は,次による。

  • a) 供試品の記号表示は,JIS Z 0201の規定による。
  • b) 供試品は実際の内容品を入れたものか,又はこれと類似の内容品を入れたものとする。供試品の包装は,全て出荷と同じ状態で行い,必要に応じて密封,封かん,結束などを施す。

装置 [6]

落下試験装置と落下面 [6.1]

垂直自由落下試験を行う際の試験装置は,次の条件を備えていなければならない【図1参照】。

  • a) 落下又は衝撃が正しく行えるように供試品を任意の姿勢に保つことができる。
  • b) 任意の落下高さを正確かつ容易に調整できる。
  • c) 供試品の取扱いとつり上げが容易にできる。
  • d) 供試品を損傷しないような昇降装置をもつ。
  • e) 落下面は,次のとおりとする。
  • 1) 落下面を構成する部材の質量は,供試品の質量の50倍以上であることが望ましい。
  • 2) 表面上のいずれの2点においても水平差は2 mm以下とする。
  • 3) 表面上のいかなる点においても,98 N/100mm2 の静荷重で0.1 mm以上の変形を生じない。
  • 4) 供試品が完全に落下できるような十分な大きさをもつものとする。
  • 5) 落下面は,コンクリート,石,鋼板などの堅固な材料で構築する。

衝撃試験装置と計測装置 [6.2]

[6.2.1] 衝撃試験装置

衝撃試験装置は,衝撃台,衝撃波形発生装置と計測装置で構成制御し,再現性のある機械衝撃を与えることによって,耐衝撃性を測定することができる一連の装置で,次の条件を備えていなければならない【図3参照】。

  • a) 衝撃試験装置の主な特性は,ISO 8568に準拠したものとする。
  • b) 供試品を取り付ける衝撃台は十分な剛性をもち,試験中は水平に保たれ,落下方向以外に移動しないようなガイドによって保持している。
  • c) 衝撃台上に発生できる衝撃パルスは,正弦半波状で衝撃パルス作用時間が3 ms以下まで可能であることが望ましい。
  • d) 所定の速度変化を発生させるための衝撃台の高さの設定は,正確かつ容易に調整でき,所定の速度変化に対応する再現性は±5 %である。
  • e) 衝撃台は,所要の衝撃パルスを発生後に二次衝撃を防止する機能をもつ。
  • f) 衝撃台は,供試品の落下姿勢を保持する器具が取りつけられる構造である。

図3-衝撃試験装置の例

[6.2.2] 計測装置

計測装置を構成する加速度ピックアップ,増幅器,演算装置,記録装置などは,次の条件を備えていなければならない。

- 周波数は1~2,000 Hzの範囲内で,平たん(±1 dB以内)とする。

- 加速度は,±2 %以内の精度で測定できるもの。

- 速度変化は,±3 %以内の精度で測定できるもの。

- ローパスフィルタの遮断周波数は,1,000 Hz以上又は衝撃パルスの基本周波数の5倍以上とする。

- 衝撃加速度波形,加速度,作用時間と速度変化の各々を観測又は記録できるもの。

[6.2.3] 加速度ピックアップの取付け

加速度ピックアップは,衝撃台上の供試品に加わる加速度を代表する箇所に堅固に固定する。接続コー

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