JIS C 6760 最新規格 弾性表面波デバイス用単結晶ウェハ－仕様及び測定法｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 6760の規格 弾性表面波デバイス用単結晶ウェハ－仕様及び測定法の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC6760:2014の規格は,弾性表面波フィルタ及び弾性表面波共振子に基板材料として用いる水晶,ニオブ酸リチウム,タンタル酸リチウム,四ほう酸リチウム及びランガサイトのウェハについて規定。
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弾性表面波デバイス用単結晶ウェハ－仕様及び測定法 規格 一覧表
弾性表面波デバイス用単結晶ウェハ－仕様及び測定法の一覧
最新 JISC6760:2014の更新 情報詳細
JIS C 6760：2014の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 6760 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 弾性表面波デバイス用単結晶ウェハ－仕様及び測定法 | ||
| 英語訳 | Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications – Specifications and measuring methods | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 62276:2012(MOD) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2014/6/20 |
| 略語・記号 | No | JIS C 6760:2014 | |
| ICS | 31.140 | JISハンドブック | |
| 改訂 履歴 | 2014-06-20(制定)，2019-10-21(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 6760:2014の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS C 6704 | 人工水晶 |
| JIS Z 9015-1 | 計数値検査に対する抜取検査手順－第１部：ロットごとの検査に対するＡＱＬ指標型抜取検査方式 |
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
