JIS C 7030 最新規格 トランジスタ測定方法|JIS規格一覧|更新改正情報|制定

JIS C 7030の規格 トランジスタ測定方法の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JISC7030:1993の規格は,電子装置に用いるバイポーラトランジスタ及び電界効果トランジスタの電気的性能の測定方法について規定。

トランジスタ測定方法 規格 一覧表

JIS C 7030

トランジスタ測定方法の一覧

最新 JISC7030:1993の更新 情報詳細

JIS C 7030:1993の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS C 7030 JIS改正 最新・更新日 1993/2/1
規格名称 トランジスタ測定方法
英語訳 Measuring methods for transistors
対応国際規格 ISO IEC 60747-7:1988(NEQ),IEC 60747-8:1984(NEQ)
主務大臣 経済産業 制定 年月日 1961/6/1
略語・記号 No JIS C 7030:1993
ICS 31.080.30JISハンドブック 電子Ⅲ-2:2018
改訂 履歴 1961-06-01(制定),1962-06-01(確認),1967-12-01改正,1970-12-01(確認),1973-12-01改正,1977-01-01(確認),1980-01-01(確認),1986-07-01(確認),1993-02-01改正,1999-06-20(確認),2004-03-20(確認),2009-10-01(確認),2014-10-20(確認),2019-10-21(確認)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS C 7030:1993の関連規格と引用規格一覧

日本産業規格の一覧

日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照

光受動部品及び光コネクタ試験方法、光受動部品、光コネクタ、光能動部品、光複合部品

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