更新日 : 2019年12月28日DIY的ライフJISC8

JIS C 8201-4-3 最新規格低圧開閉装置及び制御装置－第４－３部：接触器及びモータスタータ：非モータ負荷用交流半導体制御器及び接触器｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定

JIS C 8201-4-3の規格低圧開閉装置及び制御装置－第４－３部：接触器及びモータスタータ：非モータ負荷用交流半導体制御器及び接触器の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！

JISC8201-4-3:2010の規格は,交流電気回路のオン(ON)状態及びオフ(OFF)状態の変化によって電気的な動作をする非モータ負荷用交流半導体制御器及び接触器について規定。

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1 低圧開閉装置及び制御装置－第４－３部：接触器及びモータスタータ：非モータ負荷用交流半導体制御器及び接触器規格一覧表
2 最新 JISC8201-4-3:2010の更新情報詳細

低圧開閉装置及び制御装置－第４－３部：接触器及びモータスタータ：非モータ負荷用交流半導体制御器及び接触器規格一覧表

低圧開閉装置及び制御装置－第４－３部：接触器及びモータスタータ：非モータ負荷用交流半導体制御器及び接触器の一覧

最新 JISC8201-4-3:2010の更新情報詳細

JIS C 8201-4-3：2010の最新の詳細や改正，更新日の情報！

JIS 改正最新情報

JIS規格番号	JIS C 8201-4-3	JIS改正最新・更新日
規格名称	低圧開閉装置及び制御装置－第４－３部：接触器及びモータスタータ：非モータ負荷用交流半導体制御器及び接触器
英語訳	Low-voltage switchgear and controlgear – Part 4-3: Contactors and motor-starters – AC semiconductor controllers and contactors for non-motor loads
対応国際規格 ISO	IEC 60947-4-3:2007(MOD)
主務大臣	経済産業	制定年月日	2010/12/20
略語・記号		No	JIS C 8201-4-3:2010
ICS	29.120.40，29.130.20	JISハンドブック	電気設備II:2019
改訂履歴	2010-12-20(制定)，2015-10-20(確認)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS C 8201-4-3:2010の関連規格と引用規格一覧

規格番号	規格名称
JIS B 3502	プログラマブルコントローラ－装置への要求事項及び試験
JIS C 60050-161	ＥＭＣに関するＩＥＶ用語
JIS C 61000-3-2	電磁両立性－第３－２部：限度値－高調波電流発生限度値（１相当たりの入力電流が２０Ａ以下の機器）
JIS C 61000-4-11	電磁両立性－第４－１１部：試験及び測定技術－電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験
JIS C 61000-4-2	電磁両立性－第４－２部：試験及び測定技術－静電気放電イミュニティ試験
JIS C 61000-4-20	電磁両立性－第４－２０部：試験及び測定技術－ＴＥＭ（横方向電磁界）導波管のエミッション及びイミュニティ試験
JIS C 61000-4-22	電磁両立性－第４－２２部：試験及び測定技術－全電波無響室（ＦＡＲ）における放射エミッション及びイミュニティ試験
JIS C 61000-4-3	電磁両立性－第４－３部：試験及び測定技術－放射無線周波電磁界イミュニティ試験
JIS C 61000-4-34	電磁両立性－第４－３４部：試験及び測定技術－１相当たりの入力電流が１６Ａを超える電気機器の電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験
JIS C 61000-4-4	電磁両立性－第４－４部：試験及び測定技術－電気的ファストトランジェント／バーストイミュニティ試験
JIS C 61000-4-5	電磁両立性－第４－５部：試験及び測定技術－サージイミュニティ試験
JIS C 61000-4-6	電磁両立性－第４－６部：試験及び測定技術－無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ
JIS C 8201-1	低圧開閉装置及び制御装置－第１部：通則
JIS C 8201-4-2	低圧開閉装置及び制御装置－第４－２部：接触器及びモータスタータ：交流半導体モータ制御器及びスタータ
JIS C 8269-1	低電圧ヒューズ－第１部：通則