JIS C 61000-4-20 最新規格 電磁両立性－第４－２０部：試験及び測定技術－ＴＥＭ（横方向電磁界）導波管のエミッション及びイミュニティ試験｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 61000-4-20の規格 電磁両立性－第４－２０部：試験及び測定技術－ＴＥＭ（横方向電磁界）導波管のエミッション及びイミュニティ試験の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC61000-4-20:2014の規格は,様々な種類のTEM(横方向電磁界)導波管を用いた電気・電子装置に対するエミッション及びイミュニティ試験方法について規定。
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電磁両立性－第４－２０部：試験及び測定技術－ＴＥＭ（横方向電磁界）導波管のエミッション及びイミュニティ試験 規格 一覧表
電磁両立性－第４－２０部：試験及び測定技術－ＴＥＭ（横方向電磁界）導波管のエミッション及びイミュニティ試験の一覧
最新 JISC61000-4-20:2014の更新 情報詳細
JIS C 61000-4-20：2014の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 61000-4-20 | JIS改正 最新・更新日 | 2014/2/20 |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 電磁両立性－第４－２０部：試験及び測定技術－ＴＥＭ（横方向電磁界）導波管のエミッション及びイミュニティ試験 | ||
| 英語訳 | Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-20: Testing and measurement techniques – Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 61000-4-20:2010(MOD) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2006/4/20 |
| 略語・記号 | No | JIS C 61000-4-20:2014 | |
| ICS | 33.100.10，33.100.20 | JISハンドブック | 電磁両立性（EMC）:2018 |
| 改訂 履歴 | 2006-04-20(制定)，2011-10-20(確認)，2014-02-20改正，2018-10-22(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 61000-4-20:2014の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS C 60050-161 | ＥＭＣに関するＩＥＶ用語 |
| JIS C 61000-4-3 | 電磁両立性－第４－３部：試験及び測定技術－放射無線周波電磁界イミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-34 | 電磁両立性－第４－３４部：試験及び測定技術－１相当たりの入力電流が１６Ａを超える電気機器の電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験 |
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
