JIS K 0132 最新規格 走査電子顕微鏡試験方法通則｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS K 0132の規格 走査電子顕微鏡試験方法通則の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISK0132:1997の規格は,走査顕微鏡を用いて,二次電子による試料表画の微小部の形態観察と分析を行う場合の一般的事項について規定。
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走査電子顕微鏡試験方法通則 規格 一覧表
走査電子顕微鏡試験方法通則の一覧
最新 JISK0132:1997の更新 情報詳細
JIS K 0132：1997の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS K 0132 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 走査電子顕微鏡試験方法通則 | ||
| 英語訳 | General rules for scanning electron microscopy | ||
| 対応国際規格 ISO | |||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 1997/9/20 |
| 略語・記号 | No | JIS K 0132:1997 | |
| ICS | 37.020 | JISハンドブック | 化学分析:2019 |
| 改訂 履歴 | 1997-09-20(制定)，2002-09-20(確認)，2006-11-20(確認)，2011-10-20(確認)，2016-10-20(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS K 0132:1997の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS K 0050 | 化学分析方法通則 |
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
