JIS C 5402-4-2 最新規格 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第４－２部：電圧ストレス試験－試験４ｂ：部分放電｜JIS規格 一覧｜改正 更新情報｜制定

この規格は，部分放電を起こさずに，規定する電圧条件下で使用する電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）の能力を評価するための試験方法について規定する。この試験方法は，類似の部品にも用いてよい。

備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD（修正している），NEQ（同等でない）とする。

IEC 60512-4-2:2002，Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 4-2: Voltage stress test – Test 4b: Partial discharge (IDT)

次に掲げる引用規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。

IEC 60270:2000 High-voltage test techniques – Partial discharge measurements

試験は，IEC 60270に従って行う。

試験手順と要求事項は，個別規格による。

個別規格には，次の事項を規定する。

• a) 試験手順
• b) 要求事項
• c) この試験方法との相違