JIS C 5402-4-2 最新規格 電子機器用コネクタ-試験及び測定-第4-2部:電圧ストレス試験-試験4b:部分放電|JIS規格 一覧|改正 更新情報|制定

JIS C 5402-4-2 電子機器用コネクタ-試験と測定-第4-2部:電圧ストレス試験-試験4b:部分放電の規格 JISC5402-4-2の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JIS C5402-4-2:2005の規格は,部分放電を起こさずに,規定する電圧条件下で使用する電子機器用コネクタの能力を評価するための試験方法について規定。類似の部品にも用いてよい。

電子機器用コネクタ-試験と測定-第4-2部:電圧ストレス試験-試験4b:部分放電 規格 一覧表

JIS C 5402-4-2

電子機器用コネクタ-試験及び測定-第4-2部:電圧ストレス試験-試験4b:部分放電の一覧

最新 JIS C5402-4-2 規格の詳細 更新日 情報

JIS C 5402-4-2:2005の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS C5402-4-2 JIS改正 最新・更新日
規格名称 電子機器用コネクタ-試験と測定-第4-2部:電圧ストレス試験-試験4b:部分放電
英語訳 Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 4-2: Voltage stress tests – Test 4b: Partial discharge
対応国際規格 ISO
対応国際規格 IECIEC 60512-4-2:2002(IDT)
主務大臣 経済産業 制定 年月日 2005年03月20日
略語・記号 No JIS C5402-4-2:2005
ICS 31.220.10JISハンドブック

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

適用範囲 [1]

この規格は,部分放電を起こさずに,規定する電圧条件下で使用する電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)の能力を評価するための試験方法について規定する。この試験方法は,類似の部品にも用いてよい。

備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD(修正している),NEQ(同等でない)とする。

IEC 60512-4-2:2002,Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 4-2: Voltage stress test – Test 4b: Partial discharge (IDT)

引用規格 [2]

次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。

IEC 60270:2000 High-voltage test techniques – Partial discharge measurements

試験方法 [3]

試験は,IEC 60270に従って行う。

試験手順と要求事項は,個別規格による。

個別規格に規定する事項 [4]

個別規格には,次の事項を規定する。

  • a) 試験手順
  • b) 要求事項
  • c) この試験方法との相違

基本、コンデンサ、抵抗器、変成器・インダクタ

電子機器用コネクタ 関連 主なJIS規格 一覧

規格番号 規格名称 規格番号 規格名称
JIS C 5401-1電子機器用コネクタ-製品要求事項-第1部:品目別通則JIS C 5402-15-5電子機器用コネクタ-試験と測定-第15-5部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15e:インサート内のコンタクト保持,ケーブルの回転(nutation)
JIS C 5401-2電子機器用コネクタ-第2部:品種別通則-丸形コネクタ-品質評価付JIS C 5402-15-6電子機器用コネクタ-試験と測定-第15-6部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15f:コネクタカップリング機構の効果
JIS C 5401-2-001電子機器用コネクタ-第2-001部:丸形コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格JIS C 5402-15-8電子機器用コネクタ-試験と測定-第15-8部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15h:コンタクト保持機構,工具の使用に対する耐久性
JIS C 5401-3電子機器用コネクタ-第3部:品種別通則-角形コネクタ-品質評価付JIS C 5402-16-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第16-1部:コンタクトとターミネーションの機械的試験-試験16a:プローブダメージ
JIS C 5401-3-001電子機器用コネクタ-第3-001部:角形コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格JIS C 5402-16-13電子機器用コネクタ-試験と測定-第16-13部:コンタクトとターミネーションの機械的試験-試験16m:ラッピングの巻き戻し,無はんだラッピング接続
JIS C 5401-4電子機器用コネクタ-第4部:品種別通則-プリント配線板用コネクタ-品質評価付JIS C 5402-16-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第16-2部:コンタクトとターミネーションの機械的試験-試験16b:リストリクテッドエントリ
JIS C 5401-4-001電子機器用コネクタ-第4-001部:プリント配線板用コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格JIS C 5402-16-20電子機器用コネクタ-試験と測定-第16-20部:コンタクトとターミネーションの機械的試験-試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション)
JIS C 5402-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第1部:一般JIS C 5402-16-3電子機器用コネクタ-試験と測定-第16-3部:コンタクトとターミネーションの機械的試験-試験16c:コンタクト曲げ強度
JIS C 5402-1-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第1-1部:一般試験-試験1a:外観JIS C 5402-16-4電子機器用コネクタ-試験と測定-第16-4部:コンタクトとターミネーションの機械的試験-試験16d:引張強度(圧着接続)
JIS C 5402-1-100電子機器用コネクタ-試験と測定-第1-100部:一般-試験方法規格一覧JIS C 5402-16-5電子機器用コネクタ-試験と測定-第16-5部:コンタクトとターミネーションの機械的試験-試験16e:ゲージ保持力(弾性コンタクト)
JIS C 5402-1-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第1-2部:一般試験-試験1b:寸法と質量JIS C 5402-16-6電子機器用コネクタ-試験と測定-第16-6部:コンタクトとターミネーションの機械的試験-試験16f:ターミネーション強度
JIS C 5402-1-3電子機器用コネクタ-試験と測定-第1-3部:一般検査-試験1c:電気的接触長JIS C 5402-16-7電子機器用コネクタ-試験と測定-第16-7部:コンタクトとターミネーションの機械的試験-試験16g:圧着後のコンタクトの変形測定
JIS C 5402-1-4電子機器用コネクタ-試験と測定-第1-4部:一般検査-試験1d:コンタクトの保護効果(スクーププルーフ)JIS C 5402-16-8電子機器用コネクタ-試験と測定-第16-8部:コンタクトとターミネーションの機械的試験-試験16h:インシュレーショングリップの有効性(圧着接続)
JIS C 5402-10-4電子機器用コネクタ-試験と測定-第10-4部:インパクト試験(可動形部品),静的負荷試験(固定形部品),耐久試験と過負荷試験-試験10d:電気的過負荷(コネクタ)JIS C 5402-16-9電子機器用コネクタ-試験と測定-第16-9部:コンタクトとターミネーションの機械的試験-試験16i:接地コンタクトスプリングの保持力
JIS C 5402-11-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第11-1部:耐候性試験-試験11a:一連耐候性JIS C 5402-17-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第17-1部:ケーブルクランプ試験-試験17a:ケーブルクランプ強度
JIS C 5402-11-10電子機器用コネクタ-試験と測定-第11-10部:耐候性試験-試験11j:低温JIS C 5402-17-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第17-2部:ケーブルクランプ試験-試験17b:ケーブルクランプ強度(ケーブルの回転)
JIS C 5402-11-11電子機器用コネクタ-試験と測定-第11-11部:耐候性試験-試験11k:減圧JIS C 5402-17-3電子機器用コネクタ-試験と測定-第17-3部:ケーブルクランプ試験-試験17c:ケーブルクランプ強度(ケーブルの引張り)
JIS C 5402-11-12電子機器用コネクタ-試験と測定-第11-12部:耐候性試験-試験11m:温湿度サイクルJIS C 5402-17-4電子機器用コネクタ-試験と測定-第17-4部:ケーブルクランプ試験-試験17d:ケーブルクランプ強度(ケーブルのねじり)
JIS C 5402-11-13電子機器用コネクタ-試験と測定-第11-13部:耐候性試験-試験11n:ガスタイト・無はんだラッピング接続JIS C 5402-19-3電子機器用コネクタ-試験と測定-第19-3部:耐化学薬品試験-試験19c:耐液性
JIS C 5402-11-14電子機器用コネクタ-試験と測定-第11-14部:耐候性試験-試験11p:単一ガス流腐食JIS C 5402-2-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第2-1部:導通と接触抵抗試験-試験2a:接触抵抗-ミリボルトレベル法
JIS C 5402-11-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第11-2部:耐候性試験-試験11b:低温・減圧・湿度複合シーケンスJIS C 5402-2-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第2-2部:導通と接触抵抗試験-試験2b:接触抵抗-規定電流法
JIS C 5402-11-3電子機器用コネクタ-試験と測定-第11-3部:耐候性試験-試験11c:高温高湿(定常)JIS C 5402-2-3電子機器用コネクタ―試験と測定-第2-3部:導通と接触抵抗試験-試験2c:接触抵抗の変動
JIS C 5402-11-4電子機器用コネクタ-試験と測定-第11-4部:耐候性試験-試験11d:温度急変JIS C 5402-2-5電子機器用コネクタ-試験と測定-第2-5部:導通と接触抵抗試験-試験2e:コンタクトディスターバンス
JIS C 5402-11-5電子機器用コネクタ-試験と測定-第11-5部:耐候性試験-試験11e:かびの成長JIS C 5402-2-6電子機器用コネクタ―試験と測定-第2-6部:導通と接触抵抗試験-試験2f:ハウジング(シェル)の導通性
JIS C 5402-11-6電子機器用コネクタ-試験と測定-第11-6部:耐候性試験-試験11f:腐食,塩水噴霧JIS C 5402-20-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第20-2部:耐火性試験-試験20b:耐火性
JIS C 5402-11-7電子機器用コネクタ-試験と測定-第11-7部:耐候性試験-試験11g:混合ガス流腐食JIS C 5402-22-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第22-1部:静電容量試験-試験22a:静電容量
JIS C 5402-11-8電子機器用コネクタ-試験と測定-第11-8部:耐候性試験-試験11h:砂じんJIS C 5402-23-3電子機器用コネクタ-試験と測定-第23-3部:スクリーニングとフィルタリング試験-試験23c:コネクタとアクセサリのシールド効果
JIS C 5402-11-9電子機器用コネクタ-試験と測定-第11-9部:耐候性試験-試験11i:高温JIS C 5402-23-4電子機器用コネクタ-試験と測定-第23-4部:スクリーニングとフィルタリング試験-試験23d:時間領域での伝送線路の反射
JIS C 5402-12-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第12-1部:はんだ付け試験-試験12a:はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだ槽法JIS C 5402-3-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第3-1部:絶縁試験-試験3a:絶縁抵抗
JIS C 5402-12-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第12-2部:はんだ付け試験-試験12b:はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだこて法JIS C 5402-4-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第4-1部:電圧ストレス試験-試験4a:耐電圧
JIS C 5402-12-4電子機器用コネクタ-試験と測定-第12-4部:はんだ付け試験-試験12d:はんだ耐熱性,はんだ槽法JIS C 5402-4-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第4-2部:電圧ストレス試験-試験4b:部分放電
JIS C 5402-12-5電子機器用コネクタ-試験と測定-第12-5部:はんだ付け試験-試験12e:はんだ耐熱性,はんだこて法JIS C 5402-4-3電子機器用コネクタ-試験と測定-第4-3部:電圧ストレス試験-試験4c:耐電圧(絶縁被覆付クリンプバレル)
JIS C 5402-12-6電子機器用コネクタ-試験と測定-第12-6部:はんだ付け試験-試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックスと洗浄液に対する封止JIS C 5402-5-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第5-1部:電流容量試験-試験5a:温度上昇
JIS C 5402-12-7電子機器用コネクタ-試験と測定-第12-7部:はんだ付け試験-試験12g:はんだ付け性,平衡法JIS C 5402-5-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第5-2部:電流容量試験-試験5b:電流・温度の軽減
JIS C 5402-13-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第13-1部:機械的動作試験-試験13a:結合力と離脱力JIS C 5402-6-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第6-1部:動的ストレス試験-試験6a:加速度(定常)
JIS C 5402-13-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第13-2部:機械的動作試験-試験13b:挿入力と引抜力JIS C 5402-6-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第6-2部:動的ストレス試験-試験6b:バンプ
JIS C 5402-13-5電子機器用コネクタ-試験と測定-第13-5部:機械的動作試験-試験13e:極性とキーイングJIS C 5402-6-3電子機器用コネクタ-試験と測定-第6-3部:動的ストレス試験-試験6c:衝撃
JIS C 5402-14-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第14-2部:封止(気密性)試験-試験14b:封止(気密性)-微小エアリークJIS C 5402-6-4電子機器用コネクタ-試験と測定-第6-4部:動的ストレス試験-試験6d:正弦波振動
JIS C 5402-14-4電子機器用コネクタ-試験と測定-第14-4部:封止(気密性)試験-試験14d:浸せき-防水JIS C 5402-7-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第7-1部:衝撃試験(可動形コネクタ)-試験7a:自由落下(繰返し)
JIS C 5402-14-5電子機器用コネクタ-試験と測定-第14-5部:封止(気密性)試験-試験14e:浸せき(減圧)JIS C 5402-7-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第7-2部:衝撃試験(可動形コネクタ)-試験7b:機械的衝撃強さ
JIS C 5402-14-6電子機器用コネクタ-試験と測定-第14-6部:封止(気密性)試験-試験14f:インタフェーシャルシーリングJIS C 5402-8-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第8-1部:静的な力試験(固定形コネクタ)-試験8a:静的な力,横方向
JIS C 5402-14-7電子機器用コネクタ-試験と測定-第14-7部:封止(気密性)試験-試験14g:噴射水JIS C 5402-8-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第8-2部:静的な力試験(固定形コネクタ)-試験8b:静的な力,軸方向
JIS C 5402-15-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第15-1部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15a:インサート内のコンタクト保持JIS C 5402-8-3電子機器用コネクタ-試験と測定-第8-3部:静的な力試験(固定形コネクタ)-試験8c:操作レバーの強度
JIS C 5402-15-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第15-2部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15b:ハウジング内のインサート保持(軸方向)JIS C 5402-9-1電子機器用コネクタ-試験と測定-第9-1部:耐久試験-試験9a:機械的動作
JIS C 5402-15-3電子機器用コネクタ-試験と測定-第15-3部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15c:ハウジング内のインサート保持(ねじれ方向)JIS C 5402-9-2電子機器用コネクタ-試験と測定-第9-2部:耐久試験-試験9b:電気的負荷と温度
JIS C 5402-15-4電子機器用コネクタ-試験と測定-第15-4部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15d:コンタクトの挿入,解放と引抜力

接続部品、プリント配線板、実装技術、水晶振動子、半導体

用語、基本〔共通/単位/製図/測定・試験・分析/色彩〕、コード・記号

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