JIS C 2162 最新規格 高温での炭化けい素（ＳｉＣ）素子のゲート絶縁膜の長期信頼性寿命試験方法｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 2162の規格 高温での炭化けい素（ＳｉＣ）素子のゲート絶縁膜の長期信頼性寿命試験方法の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC2162:2010の規格は,“高温での炭化けい素(SiC)素子のゲート絶縁膜の長期信頼性寿命試験”に使用する試験装置,試料の構造,SiC基板中の欠陥の影響を排除する方法及び試験手順について規定。
高温での炭化けい素（ＳｉＣ）素子のゲート絶縁膜の長期信頼性寿命試験方法 規格 一覧表
高温での炭化けい素（ＳｉＣ）素子のゲート絶縁膜の長期信頼性寿命試験方法の一覧
最新 JISC2162:2010の更新 情報詳細
JIS C 2162：2010の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 2162 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 高温での炭化けい素（ＳｉＣ）素子のゲート絶縁膜の長期信頼性寿命試験方法 | ||
| 英語訳 | Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature | ||
| 対応国際規格 ISO | |||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2010/3/23 |
| 略語・記号 | No | JIS C 2162:2010 | |
| ICS | 29.035.01 | JISハンドブック | |
| 改訂 履歴 | 2010-03-23(制定)，2014-10-20(確認)，2019-10-21(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
