JIS C 5402-14-2 最新規格 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１４－２部：封止（気密性）試験－試験１４ｂ：封止（気密性）－微小エアリーク｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 5402-14-2の規格 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１４－２部：封止（気密性）試験－試験１４ｂ：封止（気密性）－微小エアリークの一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC5402-14-2:2016の規格は,ガスの圧力差に対する封止(seal)の有効性を評価するための標準の試験方法について規定。
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電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１４－２部：封止（気密性）試験－試験１４ｂ：封止（気密性）－微小エアリーク 規格 一覧表
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１４－２部：封止（気密性）試験－試験１４ｂ：封止（気密性）－微小エアリークの一覧
最新 JISC5402-14-2:2016の更新 情報詳細
JIS C 5402-14-2：2016の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 5402-14-2 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１４－２部：封止（気密性）試験－試験１４ｂ：封止（気密性）－微小エアリーク | ||
| 英語訳 | Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 14-2: Sealing tests – Test 14b: Sealing – Fine air leakage | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 60512-14-2:2006(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2016/3/22 |
| 略語・記号 | No | JIS C 5402-14-2:2016 | |
| ICS | 31.220.10 | JISハンドブック | 電子Ⅲ-2:2018 |
| 改訂 履歴 | 2016-03-22(制定) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 5402-14-2:2016の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS C 5402-1-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１部：一般試験－試験１ａ：外観 |
| JIS C 5402-1-100 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１００部：一般－試験方法規格一覧 |
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
