JIS C 5402-2-5 最新規格 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２－５部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｅ：コンタクトディスターバンス｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 5402-2-5の規格 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２－５部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｅ：コンタクトディスターバンスの一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC5402-2-5:2005の規格は,電子機器用コネクタの測定する動的条件下でのコンタクトディスターバンスを検出するための試験方法について規定。
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電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２－５部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｅ：コンタクトディスターバンス 規格 一覧表
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２－５部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｅ：コンタクトディスターバンスの一覧
最新 JISC5402-2-5:2005の更新 情報詳細
JIS C 5402-2-5：2005の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 5402-2-5 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２－５部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｅ：コンタクトディスターバンス | ||
| 英語訳 | Connectors for electronic equipment – Tests and measurements – Part 2-5: Electrical continuity and contact resistance tests – Test 2e: Contact disturbance | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 60512-2-5:2003(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2005/12/20 |
| 略語・記号 | No | JIS C 5402-2-5:2005 | |
| ICS | 31.220.10 | JISハンドブック | 電子Ⅲ-2:2018 |
| 改訂 履歴 | 2005-12-20(制定)，2010-10-01(確認)，2015-10-20(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
日本産業規格の一覧
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