JIS C 61326-1 最新規格 計測用，制御用及び試験室用の電気装置－電磁両立性要求事項－第１部：一般要求事項｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 61326-1の規格 計測用，制御用及び試験室用の電気装置－電磁両立性要求事項－第１部：一般要求事項の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC61326-1:2017の規格は,交流1 000V以下若しくは直流1 500V以下の,電源若しくは電池で動作する電気装置,又は測定対象の回路からの電源で動作する電気装置の電磁両立性(EMC)に関するイミュニティ及びエミッションの要求事項について規定。
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計測用，制御用及び試験室用の電気装置－電磁両立性要求事項－第１部：一般要求事項 規格 一覧表
計測用，制御用及び試験室用の電気装置－電磁両立性要求事項－第１部：一般要求事項の一覧
最新 JISC61326-1:2017の更新 情報詳細
JIS C 61326-1：2017の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 61326-1 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 計測用，制御用及び試験室用の電気装置－電磁両立性要求事項－第１部：一般要求事項 | ||
| 英語訳 | Electrical equipment for measurement, control and laboratory use – EMC requirements-Part 1: General requirements | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 61326-1:2012(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2017/10/20 |
| 略語・記号 | No | JIS C 61326-1:2017 | |
| ICS | 17.220.20，25.040.40，33.100.20 | JISハンドブック | 電気計測:2019，電磁両立性（EMC）:2018 |
| 改訂 履歴 | 2017-10-20(制定) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 61326-1:2017の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS C 61000-3-2 | 電磁両立性－第３－２部：限度値－高調波電流発生限度値（１相当たりの入力電流が２０Ａ以下の機器） |
| JIS C 61000-4-11 | 電磁両立性－第４－１１部：試験及び測定技術－電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-2 | 電磁両立性－第４－２部：試験及び測定技術－静電気放電イミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-20 | 電磁両立性－第４－２０部：試験及び測定技術－ＴＥＭ（横方向電磁界）導波管のエミッション及びイミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-22 | 電磁両立性－第４－２２部：試験及び測定技術－全電波無響室（ＦＡＲ）における放射エミッション及びイミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-3 | 電磁両立性－第４－３部：試験及び測定技術－放射無線周波電磁界イミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-34 | 電磁両立性－第４－３４部：試験及び測定技術－１相当たりの入力電流が１６Ａを超える電気機器の電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-4 | 電磁両立性－第４－４部：試験及び測定技術－電気的ファストトランジェント／バーストイミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-5 | 電磁両立性－第４－５部：試験及び測定技術－サージイミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-6 | 電磁両立性－第４－６部：試験及び測定技術－無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ |
| JIS C 61000-4-8 | 電磁両立性－第４－８部：試験及び測定技術－電源周波数磁界イミュニティ試験 |
JIS C 61326-1:2017の引用国際規格一覧
- CISPR 11:2009
- CISPR 11:2009/Amendment 1:2010
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
