JIS K 0131 最新規格 X線回折分析通則|JIS規格一覧|更新改正情報|制定

JIS K 0131の規格 X線回折分析通則の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JISK0131:1996の規格は,X線回析装置を用いて回析X線を測定し,これによって物質の固定・定量,格子定数の精密測定,結晶化度の測定などを行う場合の一般的事項について規定。

X線回折分析通則 規格 一覧表

JIS K 0131

X線回折分析通則の一覧

最新 JISK0131:1996の更新 情報詳細

JIS K 0131:1996の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS K 0131 JIS改正 最新・更新日
規格名称 X線回折分析通則
英語訳 General rules for X-ray diffractometric analysis
対応国際規格 ISO
主務大臣 経済産業 制定 年月日 1996/7/1
略語・記号 No JIS K 0131:1996
ICS 71.040.50JISハンドブック 化学分析:2019
改訂 履歴 1996-07-01(制定),2002-06-20(確認),2006-11-20(確認),2011-10-20(確認),2016-10-20(確認)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS K 0131:1996の関連規格と引用規格一覧

日本産業規格の一覧

日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照

用語、標準物質、通則・分析方法、水、試験・測定方法、データの取扱い

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