JIS Z 8754 最新規格 真空技術－質量分析計形リークディテクター校正方法｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS Z 8754の規格 真空技術－質量分析計形リークディテクター校正方法の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISZ8754:1999の規格は,質量分析計形リークディテクターの校正の手順について規定。分析管を低圧力下に保持するための高真空排気系をもつリークディテクターだけを扱う。
真空技術－質量分析計形リークディテクター校正方法 規格 一覧表
真空技術－質量分析計形リークディテクター校正方法の一覧
最新 JISZ8754:1999の更新 情報詳細
JIS Z 8754：1999の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS Z 8754 | JIS改正 最新・更新日 | 1999/2/20 |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 真空技術－質量分析計形リークディテクター校正方法 | ||
| 英語訳 | Vacuum technology – Mass-spectrometer-type leak-detector calibration | ||
| 対応国際規格 ISO | ISO 3530:1979(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 1988/3/1 |
| 略語・記号 | No | JIS Z 8754:1999 | |
| ICS | 23.160 | JISハンドブック | 非破壊検査:2019 |
| 改訂 履歴 | 1988-03-01(制定)，1993-05-01(確認)，1999-02-20改正，2004-03-20(確認)，2008-10-01(確認)，2014-10-20(確認)，2019-10-21(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照用語・記号、資格・認証・適合性評価、放射線透過試験、超音波探傷試験、浸透探傷試験、磁気探傷試験、渦電流探傷試験、漏れ試験、外観試験・目視観察、共通
