JIS Z 8785 最新規格 測光－ＣＩＥ物理測光システム｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS Z 8785の規格 測光－ＣＩＥ物理測光システムの一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISZ8785:2019の規格は,CIE物理測光システムを構成する要素である測光量,単位及び標準分光視感効率について規定。
測光－ＣＩＥ物理測光システム 規格 一覧表
測光－ＣＩＥ物理測光システムの一覧
最新 JISZ8785:2019の更新 情報詳細
JIS Z 8785：2019の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS Z 8785 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 測光－ＣＩＥ物理測光システム | ||
| 英語訳 | Photometry – The CIE system of physical photometry | ||
| 対応国際規格 ISO | ISO 23539:2005/CIE S 010:2004(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2019/2/20 |
| 略語・記号 | No | JIS Z 8785:2019 | |
| ICS | 17.180.01 | JISハンドブック | |
| 改訂 履歴 | 2019-02-20(制定) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
