JIS B 0091 最新規格 光学素子及び光学システムの干渉測定-表面形状及び波面形状公差の用語及び定義|JIS規格一覧|更新改正情報|制定

JIS B 0091の規格 光学素子及び光学システムの干渉測定-表面形状及び波面形状公差の用語及び定義の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JISB0091:2010の規格は,JISB0090規格群で使用される光学素子及び光学システムの公差の中で,干渉測定に関する用語及び定義について規定。

光学素子及び光学システムの干渉測定-表面形状及び波面形状公差の用語及び定義 規格 一覧表

JIS B 0091

光学素子及び光学システムの干渉測定-表面形状及び波面形状公差の用語及び定義の一覧

最新 JISB0091:2010の更新 情報詳細

JIS B 0091:2010の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS B 0091 JIS改正 最新・更新日
規格名称 光学素子及び光学システムの干渉測定-表面形状及び波面形状公差の用語及び定義
英語訳 Interferometric measurement of optical elements and systems – Terms and definitions of surface form and wavefront deformation tolerances
対応国際規格 ISO ISO 14999-4:2007(IDT)
主務大臣 経済産業 制定 年月日 2010/5/20
略語・記号 No JIS B 0091:2010
ICS 37.020JISハンドブック
改訂 履歴 2010-05-20(制定),2015-10-20(確認)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS B 0091:2010の関連規格と引用規格一覧

日本産業規格の一覧

日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
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