JIS C 5005-2 最新規格 品質評価システム-第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)|JIS規格一覧|更新改正情報|制定
JIS C 5005-2の規格 品質評価システム-第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!
JISC5005-2:2010の規格は,合格判定数(合格許容不適合数)ゼロ(Ac=0)を前提として,サンプルの選定及び手順の基準を含む計数値抜取検査方式について規定。
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品質評価システム-第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順) 規格 一覧表

品質評価システム-第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)の一覧
最新 JISC5005-2:2010の更新 情報詳細
JIS C 5005-2:2010の最新の詳細や改正,更新日の情報!
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 5005-2 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 品質評価システム-第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順) | ||
| 英語訳 | Quality assessment systems – Part 2: Selection and use of sampling plans for inspection of electronic components and packages | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 61193-2:2007(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2010/5/20 |
| 略語・記号 | No | JIS C 5005-2:2010 | |
| ICS | 31.190 | JISハンドブック | 電子Ⅲ-1:2018 |
| 改訂 履歴 | 2010-05-20(制定),2015-10-20(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 5005-2:2010の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS Z 8101-2 | 統計-用語及び記号-第2部:統計の応用 |
| JIS Z 9015-1 | 計数値検査に対する抜取検査手順-第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式 |
JIS C 5005-2:2010の引用国際規格一覧
- IEC 60194
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
