JIS C 60068-2-82 最新規格 環境試験方法－電気・電子－第２－８２部：試験－試験ＸＷ１：電気・電子部品のウィスカ試験方法｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 60068-2-82の規格 環境試験方法－電気・電子－第２－８２部：試験－試験ＸＷ１：電気・電子部品のウィスカ試験方法の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC60068-2-82:2009の規格は,電気・電子部品のすず又はすず合金めっき端子のウィスカ試験方法について適用。外部からの機械的な応力に起因して成長するウィスカの試験方法には,適用しない。
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環境試験方法－電気・電子－第２－８２部：試験－試験ＸＷ１：電気・電子部品のウィスカ試験方法 規格 一覧表
環境試験方法－電気・電子－第２－８２部：試験－試験ＸＷ１：電気・電子部品のウィスカ試験方法の一覧
最新 JISC60068-2-82:2009の更新 情報詳細
JIS C 60068-2-82：2009の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 60068-2-82 | JIS改正 最新・更新日 | |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 環境試験方法－電気・電子－第２－８２部：試験－試験ＸＷ１：電気・電子部品のウィスカ試験方法 | ||
| 英語訳 | Environmental testing – Part 2-82: Tests – Test XW1: Whisker test methods for electronic and electric components | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 60068-2-82:2007(IDT) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 2009/12/21 |
| 略語・記号 | No | JIS C 60068-2-82:2009 | |
| ICS | 19.040，31.190 | JISハンドブック | 電子I:2018 |
| 改訂 履歴 | 2009-12-21(制定)，2014-10-20(確認)，2019-10-21(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS C 60068-2-82:2009の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS C 60068-1 | 環境試験方法－電気・電子－第１部：通則及び指針 |
| JIS C 60068-2-20 | 環境試験方法－電気・電子－第２－２０部：試験－試験Ｔ－端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法 |
| JIS C 60068-2-58 | 環境試験方法－電気・電子－第２－５８部：表面実装部品（ＳＭＤ）のはんだ付け性，電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法 |
| JIS C 60068-2-78 | 環境試験方法－電気・電子－第２－７８部：高温高湿（定常）試験方法（試験記号：Ｃａｂ） |
JIS C 60068-2-82:2009の引用国際規格一覧
- IEC 61192-3:2002
- IEC 61760-1:2006
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照
