JIS R 1660-1 最新規格 ファインセラミックスのミリ波帯における誘電特性測定方法-第1部:遮断円筒導波管方法|JIS規格一覧|更新改正情報|制定

JIS R 1660-1の規格 ファインセラミックスのミリ波帯における誘電特性測定方法-第1部:遮断円筒導波管方法の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JISR1660-1:2004の規格は,ミリ波回路に用いる低損失誘電体基板用ファインセラミックスの遮断円筒導波管方法によるミリ波帯における誘電特性の測定方法について規定。

ファインセラミックスのミリ波帯における誘電特性測定方法-第1部:遮断円筒導波管方法 規格 一覧表

JIS R 1660-1

ファインセラミックスのミリ波帯における誘電特性測定方法-第1部:遮断円筒導波管方法の一覧

最新 JISR1660-1:2004の更新 情報詳細

JIS R 1660-1:2004の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS R 1660-1 JIS改正 最新・更新日
規格名称 ファインセラミックスのミリ波帯における誘電特性測定方法-第1部:遮断円筒導波管方法
英語訳 Measurement method for dielectric properties of fine ceramics in millimeter wave frequency range – Part 1: Cutoff waveguide method
対応国際規格 ISO
主務大臣 経済産業 制定 年月日 2004/3/20
略語・記号 No JIS R 1660-1:2004
ICS 31.080.01,81.060.30JISハンドブック ファインセラミックス:2018
改訂 履歴 2004-03-20(制定),2008-10-01(確認),2013-10-21(確認),2018-10-22(確認)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS R 1660-1:2004の関連規格と引用規格一覧

JIS R 1660-1:2004の引用国際規格一覧

  • IEC 60028

日本産業規格の一覧

日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照

一般・共通、試験方法、測定方法、分析方法、その他

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