更新日 : 2019年12月29日DIY的ライフJISZ4

JIS Z 4334 最新規格放射性表面汚染モニタ校正用標準線源－α線，β線及びX・γ線放出核種｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定

JIS Z 4334の規格放射性表面汚染モニタ校正用標準線源－α線，β線及びX・γ線放出核種の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！

JISZ4334:2019の規格は,放射性表面汚染モニタの校正に用いる,国家計量標準へのトレーサビリティが確保された放射性表面汚染モニタ校正用標準線源について規定。表面汚染モニタの校正のための標準線源の使用方法については,規定しない。

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放射性表面汚染モニタ校正用標準線源－α線，β線及びX・γ線放出核種規格一覧表

放射性表面汚染モニタ校正用標準線源－α線，β線及びX・γ線放出核種の一覧

JIS Z 4334：2019の最新の詳細や改正，更新日の情報！

JIS 改正最新情報

JIS規格番号	JIS Z 4334	JIS改正最新・更新日	2019/2/20
規格名称	放射性表面汚染モニタ校正用標準線源－α線，β線及びX・γ線放出核種
英語訳	Reference sources – Calibration of surface contamination monitors – Alpha-, beta- and photon emitters
対応国際規格 ISO	ISO 8769:2016(MOD)
主務大臣	経済産業	制定年月日	1992/3/1
略語・記号		No	JIS Z 4334:2019
ICS	17.240	JISハンドブック
改訂履歴	1992-03-01(制定)，1997-06-20(確認)，2002-06-20(確認)，2005-03-20改正，2009-10-01(確認)，2014-10-20(確認)，2019-02-20改正

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。