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JIS規格 H0に関する 一覧表
jis規格 JIS H0 一覧
※ 表の 改)は，最新の改正日です。 制)は，制定日。改正 履歴なしは，改正の履歴ない規格
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Loading...| 規格番号 | 規格名称 | 制定日 | 最新 改正日 |
|---|---|---|---|
| JISH0001 | アルミニウム，マグネシウム及びそれらの合金－質別記号 | 制）1972/2/1 | 改）1998/11/20 |
| JISH0201 | アルミニウム表面処理用語 | 制）1970/10/1 | 改）1998/11/20 |
| JISH0211 | ドライプロセス表面処理用語 | 制）1992/12/1 | 改正 履歴なし |
| JISH0301 | 非鉄金属地金のサンプリング，試料調製及び分析検査通則 | 制）1950/3/10 | 改）1997/5/20 |
| JISH0321 | 非鉄金属材料の検査通則 | 制）1950/8/22 | 改）1973/3/1 |
| JISH0400 | 電気めっき及び関連処理用語 | 制）1961/11/1 | 改）1998/11/20 |
| JISH0401 | 溶融亜鉛めっき試験方法 | 制）1950/12/20 | 改）2013/3/21 |
| JISH0404 | 電気めっきの記号による表示方法 | 制）1963/3/1 | 改）1988/3/1 |
| JISH0500 | 伸銅品用語 | 制）1998/8/20 | 改正 履歴なし |
| JISH0501 | 伸銅品結晶粒度試験方法 | 制）1957/5/27 | 改）1986/3/1 |
| JISH0502 | 銅及び銅合金管のか（渦）流探傷試験方法 | 制）1974/12/1 | 改）1986/3/1 |
| JISH0505 | 非鉄金属材料の体積抵抗率及び導電率測定方法 | 制）1967/5/1 | 改）1975/11/1 |
| JISH0511 | チタン及びチタン合金－スポンジチタンのブリネル硬さ試験方法 | 制）1961/3/1 | 改）2015/12/21 |
| JISH0515 | チタン管の渦流探傷検査方法 | 制）1992/12/1 | 改正 履歴なし |
| JISH0516 | チタン管の超音波探傷検査方法 | 制）1992/12/1 | 改正 履歴なし |
| JISH0517 | チタン溶接管の差圧試験方法 | 制）2004/3/20 | 改正 履歴なし |
| JISH0521 | アルミニウム及びアルミニウム合金の大気暴露試験方法 | 制）1968/7/1 | 改）1996/11/20 |
| JISH0522 | アルミニウム鋳物の放射線透過試験方法及び透過写真の等級分類方法 | 制）1969/2/1 | 改）1999/8/20 |
| JISH0530 | 復水器用銅合金管分極抵抗測定方法 | 制）1993/9/1 | 改正 履歴なし |
| JISH0541 | マグネシウム及びマグネシウム合金のアルカリ性塩水腐食試験方法 | 制）2003/10/20 | 改正 履歴なし |
| JISH0542 | マグネシウム合金圧延板の結晶粒度試験方法 | 制）2008/7/20 | 改正 履歴なし |
| JISH0543 | マグネシウム合金板の曲げ試験方法 | 制）2014/3/20 | 改正 履歴なし |
| JISH0544 | マグネシウム合金の燃焼試験方法 | 制）2017/11/20 | 改正 履歴なし |
| JISH0601 | ゲルマニウムの抵抗率測定方法 | 制）1962/6/1 | 改正 履歴なし |
| JISH0602 | シリコン単結晶及びシリコンウェーハの４探針法による抵抗率測定方法 | 制）1963/3/1 | 改）1995/11/1 |
| JISH0603 | ゲルマニウムの光導電減衰法によるライフタイム測定方法 | 制）1965/8/1 | 改）1978/3/1 |
| JISH0604 | シリコン単結晶の光導電減衰法によるライフタイム測定方法 | 制）1965/8/1 | 改）1995/7/1 |
| JISH0607 | 熱起電力法によるゲルマニウムの伝導型判定方法 | 制）1965/8/1 | 改）1978/3/1 |
| JISH0609 | 選択エッチング法によるシリコンの結晶欠陥の試験方法 | 制）1966/12/1 | 改）1999/11/20 |
| JISH0610 | ゲルマニウムのエッチピット測定方法 | 制）1966/12/1 | 改正 履歴なし |
| JISH0611 | シリコンウェーハの厚さ，厚さむら及びボウの測定方法 | 制）1971/10/1 | 改）1994/1/1 |
| JISH0613 | シリコンスライスウェーハ及びラップウェーハの外観検査 | 制）1978/1/1 | 改正 履歴なし |
| JISH0614 | シリコン鏡面ウェーハの外観検査 | 制）1978/1/1 | 改）1996/1/1 |
| JISH0615 | フォトルミネッセンスによるシリコン結晶中の不純物濃度測定方法 | 制）1996/1/1 | 改正 履歴なし |
