JIS C 5003 最新規格 電子部品の故障率試験方法通則｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS C 5003の規格 電子部品の故障率試験方法通則の一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISC5003:1974の規格は,本質的に同一設計で連続的に製造され,確立した品質管理によって生産される電子部品であって,原則として期待される寿命期間中,一定の故障率を合理的に仮定できる部品について適用し,計数1回抜取検査方式によって,部品の故障率水準の初期判定,維持,拡張の原則,測定間隔,試料数,試験時間,得られた結果の処理などの手順について規定。
電子部品の故障率試験方法通則 規格 一覧表
電子部品の故障率試験方法通則の一覧
最新 JISC5003:1974の更新 情報詳細
JIS C 5003：1974の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS C 5003 | JIS改正 最新・更新日 | 1974/7/1 |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | 電子部品の故障率試験方法通則 | ||
| 英語訳 | General test procedure of failure rate for electronic components | ||
| 対応国際規格 ISO | |||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 1969/7/1 |
| 略語・記号 | No | JIS C 5003:1974 | |
| ICS | 31.020 | JISハンドブック | 電子I:2018 |
| 改訂 履歴 | 1969-07-01(制定)，1972-08-01(確認)，1974-07-01改正，1977-07-01(確認)，1982-11-01(確認)，1988-01-01(確認)，1993-02-01(確認)，2004-03-20(確認)，2009-10-01(確認)，2014-10-20(確認)，2019-10-21(確認) | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
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