JIS Z 4324 最新規格 Ｘ線及びγ線用据置形エリアモニタ｜JIS規格一覧｜更新改正情報｜制定
JIS Z 4324の規格 Ｘ線及びγ線用据置形エリアモニタの一覧･基本･名称･用語･知識･JIS最新改正更新情報に関して解説！
JISZ4324:2017の規格は,原子力施設及び放射線施設の建屋内の作業環境における,X線及びγ線の周辺線量当量率を連続的に監視するための据置形のエリアモニタについて規定。パルス状の放射線の測定に関わる性能,及び事故時又は緊急時の線量率測定に関わる特別な性能は,規定しない。この規格で規定する環境条件を超えてモニタを使用するために付加された機能の性能についても,規定しない。
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Ｘ線及びγ線用据置形エリアモニタ 規格 一覧表
Ｘ線及びγ線用据置形エリアモニタの一覧
最新 JISZ4324:2017の更新 情報詳細
JIS Z 4324：2017の最新の詳細や改正，更新日の情報！
JIS 改正 最新情報
| JIS規格番号 | JIS Z 4324 | JIS改正 最新・更新日 | 2017/4/20 |
|---|---|---|---|
| 規格名称 | Ｘ線及びγ線用据置形エリアモニタ | ||
| 英語訳 | Installed area monitors for X and gamma rays | ||
| 対応国際規格 ISO | IEC 60532:2010(MOD) | ||
| 主務大臣 | 経済産業 | 制定 年月日 | 1980/5/1 |
| 略語・記号 | No | JIS Z 4324:2017 | |
| ICS | 13.280，17.240 | JISハンドブック | 非破壊検査:2019 |
| 改訂 履歴 | 1980-05-01(制定)，1985-09-01(確認)，1990-08-01(確認)，1997-11-20改正，2003-03-20(確認)，2008-03-20(確認)，2009-10-20改正，2014-10-20(確認)，2017-04-20改正 | ||
JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。
JIS Z 4324:2017の関連規格と引用規格一覧
| 規格番号 | 規格名称 |
|---|---|
| JIS C 60068-2-75 | 環境試験方法－電気・電子－第２－７５部：ハンマ試験（試験記号：Ｅｈ） |
| JIS C 61000-4-2 | 電磁両立性－第４－２部：試験及び測定技術－静電気放電イミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-20 | 電磁両立性－第４－２０部：試験及び測定技術－ＴＥＭ（横方向電磁界）導波管のエミッション及びイミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-22 | 電磁両立性－第４－２２部：試験及び測定技術－全電波無響室（ＦＡＲ）における放射エミッション及びイミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-3 | 電磁両立性－第４－３部：試験及び測定技術－放射無線周波電磁界イミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-34 | 電磁両立性－第４－３４部：試験及び測定技術－１相当たりの入力電流が１６Ａを超える電気機器の電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-5 | 電磁両立性－第４－５部：試験及び測定技術－サージイミュニティ試験 |
| JIS C 61000-4-6 | 電磁両立性－第４－６部：試験及び測定技術－無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ |
| JIS C 61000-4-8 | 電磁両立性－第４－８部：試験及び測定技術－電源周波数磁界イミュニティ試験 |
| JIS Z 4001 | 原子力用語 |
| JIS Z 4344 | Ｘ線及びγ線用可搬形エリアモニタ |
| JIS Z 4511 | Ｘ線及びγ線用線量（率）測定器の校正方法 |
| JIS Z 8103 | 計測用語 |
JIS Z 4324:2017の引用国際規格一覧
- ISO 4037-1
- ISO 4037-2
- ISO 4037-3
- ISO 4037-4
日本産業規格の一覧
日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照用語・記号、資格・認証・適合性評価、放射線透過試験、超音波探傷試験、浸透探傷試験、磁気探傷試験、渦電流探傷試験、漏れ試験、外観試験・目視観察、共通
