JIS C 2170 最新規格 静電気電荷蓄積を防止する固体平面材料の抵抗及び抵抗率試験方法|JIS規格一覧|更新改正情報|制定

JIS C 2170の規格 静電気電荷蓄積を防止する固体平面材料の抵抗及び抵抗率試験方法の一覧・基本・名称・用語・知識・JIS最新改正更新情報に関して解説!

JISC2170:2004の規格は,静電気電荷蓄積を防止するための10×4~10×12Ωの範囲の固体平面材料の電気的抵抗及び抵抗率の試験方法について規定。

静電気電荷蓄積を防止する固体平面材料の抵抗及び抵抗率試験方法 規格 一覧表

JIS C 2170

静電気電荷蓄積を防止する固体平面材料の抵抗及び抵抗率試験方法の一覧

最新 JISC2170:2004の更新 情報詳細

JIS C 2170:2004の最新の詳細や改正,更新日の情報!

JIS 改正 最新情報

JIS規格番号 JIS C 2170 JIS改正 最新・更新日
規格名称 静電気電荷蓄積を防止する固体平面材料の抵抗及び抵抗率試験方法
英語訳 Electrostatics – Methods of test for determining the resistance and resistivity of solid planar materials used to avoid electrostatic charge accumulation
対応国際規格 ISO IEC 61340-2-3:2000(IDT)
主務大臣 経済産業 制定 年月日 2004/3/20
略語・記号 No JIS C 2170:2004
ICS 17.220.99,29.020JISハンドブック 電子I:2018
改訂 履歴 2004-03-20(制定),2008-10-01(確認),2013-10-21(確認),2018-10-22(確認)

JIS規格「日本工業規格」は、2019年7月1日の法改正により名称が「日本産業規格」に変わりました。

JIS C 2170:2004の引用国際規格一覧

  • IEC 60093:1980
  • IEC 60167:1964
  • IEC 60212:1971
  • IEC 60260:1968
  • ISO 1853:1998
  • ISO 2951:1974
  • ISO 3915:1981

日本産業規格の一覧

日本産業規格のアルファベット分類一覧を参照

光増幅器、光ファイバ、光ファイバ通信サブシステム、光測定器、レーザ安全

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